20G1G3F920MNDNNNNN-C0-P50 機架
功能與參數測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區,放大區和飽和區.但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數值等.
2.同理對TTL數字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現象的分布
1.電路板故障部位的不完全統計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現聯線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
20G1G3F920MNDNNNNN-C0-P50 機架
| 20G1G3F505KNDNNNNN-P50 |
| 20G1G3F505LNDNNNNN |
| 20G1G3F505MNDNNNNN-P51 |
| 20G1G3F565LNDNNNNN |
| 20G1G3F565MNANNNNN |
| 20G1G3F650LNDNNNNN |
| 20G1G3F650MNANNNNN |
| 20G1G3F650MNDNNNNN-P51 |
| 20G1G3F735LNDNNNNN |
| 20G1G3F735MNDNNNNN-C0 |
| 20G1G3F735MNDNNNNN-P51 |
| 20G1G3F920LNDNNNNN |
| 20G1G3F920MNDNNNNN-C0-P50 |
| 20G1G4C1K0LNDNNNNN-C0-P50 |
| 20G1G4C1K1JNANNNNN |
| 20G1G4C1K1JNDNNNNN |
| 20G1G4C1K1LNANNNNN-P17 |
| 20G1G4C1K2JNDNNNNN |
| 20G1G4C302JNDNNNNN |
| 20G1G4C460KNDNNNNN-P50 |
| 20G1G4C540JNANNNNN |
| 20G1G4C540LNANNNNN |
| 20G1G4C540LNDNNNNN-P51 |
| 20G1G4C585LNANNNNN |
| 20G1G4C650JNDNNNNN |
| 20G1G4C650LNANNNNN |
| 20G1G4C750JNDNNNNN |
| 20G1G4C750MNDNNNNN-P51 |
| 20G1G4C920LNDNNNNN |
| 20G1G4C920LNDNNNNN-P17 |
| 20G1G4C920MNDNNNNN-P51 |
| 20G1G4D2K0KNDNNNNN-C0-P46-P50 |
| 20G1G4D302LNANNNNN-C0 |
| 20G1G4D800KNANNNNN |
| 20G1G4D960LNDNNNNN-C0-P50 |
| 20G1G4D960LNDNNNNN-P15 |
| 20G1G4F1K0MNDNNNNN-P15 |
| 20G1G4F1K4MNDNNNNN |
| 20G1G4F1K4MNDNNNNN-P15 |
| 20G1G4F215MNDNNNNN-P15 |
| 20G1G4F265MNDNNNNN-P15 |
貨源豐富，實力雄厚；現貨居多，滿足需求；質量保證，買的放心，用的安心；實惠為了合作，合作為了更多的合作！
優質的產品★優質的價格★優質的售后★優質的服務
