GSM雙模測(cè)試卡、CDMA雙模測(cè)試卡、WCDMA測(cè)試卡，3G測(cè)試卡，TD-LTE測(cè)試卡、4G測(cè)試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號(hào)測(cè)試。常用于GSM測(cè)試卡、CDMA測(cè)試卡、WCDMA測(cè)試卡，3G測(cè)試卡，TD-LTE、4G手機(jī)，配合綜合測(cè)試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡(luò)對(duì)手機(jī)進(jìn)行無(wú)干擾綜合測(cè)試；手機(jī)在生產(chǎn)中需要對(duì)成品進(jìn)行相關(guān)信號(hào)測(cè)試，卻要進(jìn)行大規(guī)模屏敝，需動(dòng)用更多的人力物力及測(cè)試時(shí)間，使生產(chǎn)工藝繁雜及成本增加，測(cè)試卡可以實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的一路徑，讓測(cè)試環(huán)境更加簡(jiǎn)潔，很好的解決了這一繁鎖問(wèn)題。GSM測(cè)試卡、CDMA測(cè)試卡、WCDMA測(cè)試卡，3G測(cè)試卡，TD-LTE測(cè)試卡、4G測(cè)試卡可進(jìn)行偶合測(cè)試，誤碼率測(cè)試、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測(cè)儀測(cè)試等。 

二．產(chǎn)品適用的測(cè)試儀器的品牌：

適用安捷倫、安立、羅德、施瓦茨、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMD55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等國(guó)外、國(guó)內(nèi)的各種測(cè)試儀器以及自建的網(wǎng)絡(luò)等。

三：產(chǎn)品品質(zhì)保證：

我們公司的GSM、CDMA測(cè)試卡，2G雙模測(cè)試卡采用國(guó)際著名半導(dǎo)體廠商生產(chǎn)的專用芯片，3V/5V兼容5-6觸點(diǎn)兼容設(shè)計(jì)，適合一切手機(jī).、配以專用COS系統(tǒng)，全面遵從3G對(duì)手機(jī)，SIM卡的各項(xiàng)規(guī)范特殊的半導(dǎo)體硅襯，保證卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（GSM標(biāo)準(zhǔn)為4牛頓／每平方米）適合工業(yè)化生產(chǎn)線使用，采用超長(zhǎng)壽命EEPROM，保證讀寫次數(shù)在10萬(wàn)次以上。（3G標(biāo)準(zhǔn)只要求3萬(wàn)次，按一般生產(chǎn)線測(cè)量要求，每部手機(jī)的讀寫次數(shù)為10次，可測(cè)一萬(wàn)部手機(jī)。），專利芯片保護(hù)層，保證卡片安全，防電子攻擊。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層，抗靜電（ESD），防水（48小時(shí)浸泡試驗(yàn)）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC），耐高溫，45度可正常工作4小時(shí)以上。75度溫度沖擊試驗(yàn).

我公司產(chǎn)品經(jīng)國(guó)家集成電路卡注冊(cè)中心授權(quán)使用進(jìn)口三星等若干芯片[授權(quán)范圍：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx帶觸點(diǎn)IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化學(xué)性、觸點(diǎn)電特性均已通過(guò)國(guó)家電子計(jì)算機(jī)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心及信息產(chǎn)業(yè)部IC卡質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心檢驗(yàn)合格，具有權(quán)威性的品質(zhì)保證。