寧波著色探傷檢測(cè)

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無(wú)損探傷的檢測(cè)方法有：射線探傷（RT）、超聲波探傷（UT）、磁粉探傷（MT）、滲透（著色）探傷（PT）等。

磁粉探傷：是用來(lái)檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷的一種檢測(cè)方法。

滲透（著色）探傷：是利用毛細(xì)現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷，經(jīng)清洗使表面滲透液去除，而缺陷中的滲透殘留，再利用顯像劑的毛細(xì)管作用吸附出缺陷中殘留滲透液而達(dá)到檢驗(yàn)缺陷的目的。

超聲波探傷：是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢查零件缺陷的一種方法。

射線探傷：X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同，檢測(cè)被檢物中缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。

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