15J型測量顯微鏡

一、儀器的主要用途 
    測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極
廣，主要用途如下：
1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽
寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。
2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等.

二、儀器的主要技術指標

x軸移動測量范圍： 50毫米
y軸移動測量范圍： 13毫米
測微器分度值： 0.01毫米
測量臺轉動范圍： 不限
測量臺刻度盤分度范圍：　0° - 360°
測量臺刻度盤之分度值： 1°
測量臺刻度盤游標讀數示值： 6
照明方式：反射光(自然光)
測量精度：儀器值誤差(5+L/15)微米
儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。
儀器之主要尺寸： 測量臺與物鏡間之最大距離：80毫米 
測量工作臺直徑： 120毫米 
儀器外形尺寸：　 高325*長262*寬220毫米 
儀器重量級： 約10.6公斤 
顯微鏡目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉，顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦
注：測量地點溫度變化(20 ± 3）C；L—被測件長度（毫米）