牛津礦物分析X-MET M4/M5光譜儀華南總代理
X-MET M4/M5光譜儀x射線熒光(XRF)分析是全世界認(rèn)可的快速鑒定礦山中關(guān)鍵礦物成分的方法。其速度、靈活性和操作簡(jiǎn)單的特點(diǎn)使之成為當(dāng)今專業(yè)采礦人員和礦物地質(zhì)學(xué)家的首選工具。專為礦物分析應(yīng)用而打造可進(jìn)行快速現(xiàn)場(chǎng)分析，礦石勘探和制圖，現(xiàn)場(chǎng)挖掘和品位控制
產(chǎn)品特點(diǎn)：
“一鍵”分析：操作簡(jiǎn)單，只需簡(jiǎn)單培訓(xùn)
市面上最大的彩色觸摸屏，采用圖標(biāo)操作的用戶界面：在任何天氣條件下都能呈現(xiàn)最佳可視度
長(zhǎng)達(dá)10-12小時(shí)的電池量，充電一次可以使用一整天
簡(jiǎn)單強(qiáng)大的安全數(shù)據(jù)下載系統(tǒng)，靈活的報(bào)告導(dǎo)出格式，并具有wifi功能
實(shí)現(xiàn)對(duì)實(shí)驗(yàn)室分析依賴的最小化、大大降低成本節(jié)省時(shí)間
任何時(shí)間、任何地點(diǎn)，現(xiàn)場(chǎng)分析只需要幾秒鐘
可直接檢測(cè)巖芯、廢屑、巖石、粉末等微量樣品制備即可實(shí)現(xiàn)篩選分析
可分析從鎂到鈾超過(guò)35種元素
痕量元素分析可低至ppm級(jí)
利用基本參數(shù)法和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)校準(zhǔn)法相互結(jié)合性能和靈活性無(wú)與倫比
輕松使用類型校準(zhǔn)來(lái)補(bǔ)償基體效應(yīng)實(shí)時(shí)顯示數(shù)據(jù)平均值，保證更可靠的結(jié)果
包裝箱輕便、堅(jiān)固、防水，便于運(yùn)輸和儲(chǔ)存
