CMI255通用型測(cè)厚儀英國(guó)牛津上海代理

產(chǎn)品價(jià)格：	1/人民幣
最后更新：	2017-04-11 14:18:00
產(chǎn)品產(chǎn)地：	英國(guó)
發(fā)貨地：	上海 (發(fā)貨期：當(dāng)天內(nèi)發(fā)貨)
供應(yīng)數(shù)量：	不限
有效期：	長(zhǎng)期有效
最少起訂：	1
瀏覽次數(shù)：	52

公司基本資料信息

篤摯儀器（上海）有限公司
朱經(jīng)理先生銷(xiāo)售經(jīng)理
會(huì)員[試用會(huì)員產(chǎn)品]
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產(chǎn)品詳細(xì)說(shuō)明

CMI255通用型測(cè)厚儀英國(guó)牛津上海代理

主要特點(diǎn)：

1. 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；

2. 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL)；

3. 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）

4. 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；

5. 具有存貯功能：可存貯300個(gè)測(cè)量值；

6. 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除涂層測(cè)厚儀存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；

7. 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；

8. 具有與PC機(jī)通訊的功能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī)，以便涂層測(cè)厚儀對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；

9. 具有電源欠壓指示功能；

10. 操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；

11. 具有錯(cuò)誤提示功能；

12. 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。

影響因素

1）基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

2）基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3）基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

4）邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

5）曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

6）試件的變形

測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

7）表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

8）磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

9）附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

10）測(cè)頭壓力

測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

11）測(cè)頭的取向

測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。

堅(jiān)定規(guī)程

標(biāo)準(zhǔn)：

  國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956-2003《磁性基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性法》

  國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 2178-1982

檢定規(guī)程：

  JJG818-2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x》

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