ESD的測試方法類似FAB里面的GOI測試，pin之后先給他一個ESD電壓，持續一段時間后，然后再回來測試電性看看是否損壞，沒問題再去加一個step的ESD電壓再持續一段時間，再測電性，如此反復直至擊穿，此時的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps)，為了降低測試周期，通常起始電壓用標準電壓的70 ESD threshold，每個step可以根據需要自己調整50V或者100V。

　　我們如何判斷EMS試驗結果的好壞呢？

　　對于 EMS（電磁敏感性）試驗，其性能判斷依據可分為四個等級：

　　A 級：試驗中性能指標正常；

　　B 級：試驗中性能暫時降低，功能不喪失，試驗后能自行恢復；

　　C 級：功能允許喪失，但能自恢復，或操作者干預后能恢復；

　　R 級：除保護元件外，不允許出現因設備（元件）或軟件損壞或數據丟失而造成不能恢復的功能喪失或性能降低。

　　電磁兼容（Electro Magnetic Compatibility，簡稱 EMC）是電工、電子產品重要的一項質量指標。可以認為產品質量主要由質量規范與技術指標兩大內容構成。前者涉及通用規范，即國際上 IEC，國內由國家制訂的基礎性標準；后者是產品功能的規定及其技術要求。電磁兼容與安全要求是基礎性標準。現在 EMC 已從基礎標準、通用標準、族標準、一直到產品標準，形成完備的體系。

　　EMI測試主要包含什么內容?

　　Radiated Emission -輻射擾測試

　　Conducted Emission-傳導擾測試

　　Harmonic-諧波電流擾測試

　　Flicker-電壓變化與閃爍測試