觀察顯微鏡主要優點：工作臺除作X、Y坐標的移動外，還可以作360度的旋轉，是一種理想的固定場所小型精密測量儀器。

　　觀察顯微鏡技術參數：

　　1、鏡筒：粗動：調節范圍 90毫米，微動：調節范圍2毫米，高（Z）測量：范圍1毫米，小讀數0.001毫米（比較測量），鏡筒：雙目鏡筒 俯角45度；

　　2、工作臺：左右（X軸）：移動范圍25毫米，前后（Y軸）

　　：移動范圍25毫米，分辨率：1微米，旋轉：360度；

　　3、照明系統：光源：透射照明，8V12W 藍、綠色濾光片，反射照明，8V12W 磨沙燈泡、綠色濾光片，斜 照 明，8V12W綠色濾光片，電源：AC220±22V 50/60Hz；

　　4、光學系統：目鏡：BWF 10X；物鏡：4X、工作距離17.5、焦距28.8，10X、工作距離11.6、焦距15.4，40X、工作距離0.66、焦距4.4；

　　5、X---Y軸測量范圍：50×13mm；

　　6、測微器分度值：0.01mm；

　　7、圓工作臺角度測量范圍：0°/360°；

　　8、儀器測量準確度：儀器示值誤差±(5 L/15)；

　　9、放大倍數 25×/100×

　　觀察顯微鏡針尖與樣品之間的作用力與距離有強烈的依賴關系，所以在掃描過程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會隨樣品表面的起伏上下移動，記錄針尖上下運動的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為“恒力”模式（Constant Force Mode），是使用廣泛的掃描方式。

　　觀察顯微鏡主要特點：

　　選購件：下照明/斜照明/成橡系統/顯微圖像處理系統等等

　　儀器作用：

　　1、直角坐標中測定長度

　　2、旋轉度盤測定角度

　　3、用作觀察顯微鏡

　　4、利用微微動載物臺之移動，配全目鏡之十字座標線，作長度量測。

　　5、利用旋轉載物臺與目鏡下端之游標微分角度盤，配全合目鏡之址字座標線，作角度量測，令待測角一端對準十字線與之重合，然再讓另一端也重合。

　　6、利用標準檢測螺紋的節距、節徑、外徑、牙角及牙形等尺寸或外形。

　　7、檢驗金相表面的晶粒狀況。

　　8、檢驗工件加工表面的情況。

　　9、檢測微小工件的尺寸或輪廓是否與標準片相符。

　　AFM的圖像也可以使用“恒高”模式（Constant Height Mode）來獲得，也就是在X，Y掃描過程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過測量微懸臂Z方向的形變量來成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時用得比較多，而對于表面起伏比較大的樣品不適用。

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