晶片上激光標注檢測創視白色同軸光源CC-90-W

　　創視公司成立于2015年6月，在2017年度被認定為高新技術企業，總部在東莞，同時在成都、昆山、武漢等地均設有辦事處和的光學實驗室及技術服務團隊，為超過2,000家視覺系統集成商、設備制造商和大型制造企業提供超過50,000個的成功成像解決方案和高性價比的視覺配套產品，在行業成像解決、疑難雜癥打光及非標光源定制等領域，久負盛名。

　　應用范圍

　　·檢測晶片上激光標注。

　　·檢測金屬表面、軸承、飲料罐上刻印字符。

　　·檢測金屬、玻璃板上印刷的二維碼。

　　·液晶屏缺陷。

　　使用此光源時需要注意的地方？

　　同軸光不能離物體太近，否則會因為其發光面的漏光而導致光面不是漫射的均勻光。

　　同軸光由于中間有塊半透半反射玻璃，且當同軸光用于物體和鏡頭之間時，會影響成像的精度。其可能導致邊緣變虛，不夠銳利。