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| 產品參數 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 日本AET | ||
| 產品特性 | 介電常數 | ||
| 是否進口 | 是 | ||
| 產地 | 日本 | ||
| 加工定制 | 否 | ||
| 測量范圍 | 介電常數Epsilon：1-15 | ||
| 可測樣品狀態 | 平面 | ||
| 重復性誤差 | 1 | ||
| 外形尺寸 | 400*500 | ||
| 適用范圍 | 微晶玻璃 陶瓷 | ||
| 規格 | 日本AET | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
| 類型 | 光度測定儀 | ||
| 型號 | 日本AET | ||
介電常數分析儀器簡介：
日本AET微波(高頻)介電常數分析儀, 利用微波技術結合高Q腔以及3D電磁場模擬技術，采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM，測量材料的高頻介電常數，深圳田野儀器-中國市場總代理 此方法保證了介電常數測量結果的精確性。
一、技術參數：
可測試頻率范圍： 800M～40GHz
介電常數Epsilon：1-15，?? 準確度： ±1，
介電損耗tangent delta：0.1-0.001，? 準確度：±5
共有兩種同軸共振腔，每個腔可測五個頻點:
TyPe A：? 0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz
TyPe B:? ? 1/3/5/7/9GHz??
二、主要特點：
同軸共振腔適用于不同形狀樣品。
包括薄膜樣品的非破壞性測量，使用簡易的逐步操作，內置的反饋振蕩器電路可實現精確的量測。
三、應用領域：?
高速數字/微波電路用基底材料 ；濾波器和介電天線用低損耗電介質 ；化學制品；
薄膜與新材料；半導體材料；電子材料（包括CCL和PCB）
陶瓷材料；納米材料；光電材料等
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日本AET介電常數測定儀 無損誘電率測定裝置
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