一,簡述

　　TSK-64應(yīng)力應(yīng)變測試儀是針對印刷電路板應(yīng)力應(yīng)變測試應(yīng)用所進(jìn)行設(shè)計(jì)的專項(xiàng)使用儀器,測試項(xiàng)目包括：錫球破裂,布線損毀,焊盤分離和基板分離等。提供實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)監(jiān)控,避免測試過程中出現(xiàn)故障。

　　二,應(yīng)用

　　應(yīng)力應(yīng)變測試儀廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品等領(lǐng)域的測試,通過應(yīng)變,應(yīng)變速率上的客觀分析,為蘋果,華為,格力,美的等客戶的電路板工藝優(yōu)化提供了重要依據(jù)。

　　三,參數(shù)

　　1.測量類別：應(yīng)變

　　2.測量對象：120Ω應(yīng)變片

　　3.測量范圍：±55000με

　　4.通道數(shù)：8通道,16通,24通道,32通道,40通道，48通道,64通道

　　5.每通道采樣率：10kHz（由選配板卡決定）

　　6.AD分辨率：24bit

　　7.精度：±0.3

　　8。重量：0.8-3.5kg

　　9.環(huán)境溫度：-40℃-70℃

　　10.環(huán)境濕度：10-90

　　11.接口：USB2.0

　　12.輸入電壓：100VAV-240VAC

　　四,特點(diǎn)

　　1.設(shè)備輕巧,便攜

　　2.可直接和應(yīng)變片相連

　　3.允許120Ω或350Ω的1/4橋接入

　　4.每通道采樣速率可達(dá)10kHz（由選配板卡決定）

　　5.每通道同時(shí)使用抗混疊濾波器和模擬轉(zhuǎn)數(shù)字進(jìn)行采樣

　　6.提供高速型USB接口

　　7.主機(jī)支持多款模塊

　　8.符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)的要求