DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測試儀（瞬態(tài)平面熱源法）

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?? ? ??DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測試儀
? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? (瞬態(tài)平面熱源法,Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測試儀)

一、概述：
??本儀器采用瞬態(tài)平面熱源法，基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù)，用Hot Disk探頭。該儀器的優(yōu)點有：
???????(1)直接測量熱傳播，可以節(jié)約大量的時間；
? ? ???(2)不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；
? ?????(3)無須特別的樣品制備，對固態(tài)材料只需有一個相對平整的樣品表面。不同類型的材料采用不同的測試方案及計算數(shù)學(xué)模型，具有測量速度快、適用范圍寬及能夠成功避免在實驗過程中自然對流的影響等優(yōu)點。實際測試材料范圍廣，導(dǎo)熱系數(shù)范圍寬，試樣處理簡單，測試速度快的優(yōu)點，是目前比較流行的測試方法。

? ? 設(shè)備參考標(biāo)準(zhǔn)：ISO 22007-2:2008, GB/T32064-2015?。

? ? 測試材料:?金屬、合金、石墨、導(dǎo)熱硅脂、硅膠、硅橡膠、陶瓷、巖土、巖石、聚合物、紙、織物、泡沫塑料、混凝土、復(fù)合板材、紙蜂窩板等固體、粉末、液體、糊狀、涂層、薄膜、保溫材料、絕熱材料、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)、導(dǎo)溫系數(shù)（熱擴(kuò)散系數(shù)）和比熱容、蓄熱系數(shù)及熱阻。

二、主要技術(shù)參數(shù)：
? ? ?1.導(dǎo)熱系數(shù)測定范圍：0.001～500 w/(m.k),分辯率為0.0001w/(m.k)；

? 2.熱擴(kuò)散系數(shù)（導(dǎo)溫系數(shù)）范圍：0.1～100 m2/s；??

? 3.蓄熱系數(shù)范圍：0.1～30 w/(m2.k)；
? ? ?4.比熱容范圍：0.1～5 kJ/(kg.℃)；?

??5.熱阻范圍：0.5～0.000005 mm2.k/w；

??6.溫度測量精度：≤0.001℃；???

??7.測量相對誤差：≤3；????

? 8.重復(fù)性誤差：≤ 3；???

? 9.測試時間：1～120 秒。
? ? 10.試樣測試環(huán)境溫度范圍：-40～150℃；標(biāo)準(zhǔn)配置：室溫。

? ? ? 可根據(jù)客戶要求選配各種高、低溫度段控制箱(-40～150℃)或真空狀態(tài)下的測試狀態(tài),合同約定，費用另計；

? 11.探頭配置：標(biāo)準(zhǔn)配置：直徑Φ15mm。

可根據(jù)客戶要求選配探頭直徑：Φ30mm, Φ15mm,Φ7.5mm，Φ4mm或同時配置，合同約定，費用另計；

??12. 測試試樣要求：

? ? ? ? ? a、固體塊狀或圓形、方形、異形樣品，無須特別制備，只需一個相對平整的樣品表面,配有專用試樣裝夾裝置。

? ? ? ? ? b、對粉狀、糊狀、液狀物質(zhì)無特殊要求,配有專用試樣測試盒。?

? ? ??c、所測較薄材料（厚度0.01～1mm）,專用測試方案與數(shù)學(xué)模型進(jìn)行測試。

? ? ? ? ? ? d、高導(dǎo)材料（100～500W）,專用測試方案與數(shù)學(xué)模型進(jìn)行測試。

? ? ? ? ? ? e、絕熱保溫材料（0.010～0.050W）,專用測試方案與數(shù)學(xué)模型進(jìn)行測試。

? 13.采用全自動測試軟件，快速準(zhǔn)確對樣品進(jìn)行試驗過程參數(shù)分析和報告輸出。
??14.電源：AC 220V±10，50/60 Hz, 整機(jī)功率：＜500w；
三、探頭技術(shù)指標(biāo)：
? ? ?? 1. 加熱材料：金屬鎳；
? ? ? ?2. 使用溫度：-50～150℃；
? ? ? ?3. 功率：20w；
? ? ? ?4. 電壓：20V；
? ? ? ?5. 電流：1A；
? ? ? ?6. 電阻：10Ω左右，依探頭上標(biāo)注阻值為準(zhǔn)；
? ? ? ?7. 鎳絲規(guī)格：厚度0.01mm,熱絲寬度：0.35±0.03mm；
? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?熱絲間距：0.35±0.03mm?；
? ? ? ?8. 保護(hù)層材料：聚酰亞胺薄膜（Kapton）；單層厚度：0.06mm；
? ? ? ?9. 探頭直徑：Φ30mm,Φ15mm,Φ7.5mm。
? ? ? ?10.探頭總厚度（包括粘結(jié)層厚度）0.07±0.02mm。