實(shí)驗(yàn)室零部件專用表面顆粒物檢查儀-普洛帝測(cè)控

產(chǎn) 品 應(yīng)用：
可廣泛應(yīng)用于航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車制造、制冷、電子、半導(dǎo)體、工程機(jī)械、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域，對(duì)汽車零部件、飛機(jī)零部件、航天器零部件等油脂污染物進(jìn)行檢測(cè)。
功能特點(diǎn):
測(cè)量精度：
選擇性高，靈敏度高，最低檢出限可達(dá)0.1μm，適合于各類物體的表面。
測(cè)量速度：
從測(cè)樣到生成測(cè)量數(shù)據(jù)只需要30秒鐘時(shí)間，可以輕松應(yīng)對(duì)大樣品量的情況。
操作模塊：
儀器操作異常簡(jiǎn)單，只需要幾分鐘就可以輕松掌握，無(wú)需專業(yè)培訓(xùn)。
環(huán)境要求：
儀器結(jié)構(gòu)緊湊，尺寸小巧，堅(jiān)固抗振，適宜在任何惡劣的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境進(jìn)行快速檢測(cè)。
適用樣品：
可溯源性：
有機(jī)物可溯源之國(guó)際法制計(jì)量組織（International Organization of Leg al Metrology, 簡(jiǎn)稱OIML）批準(zhǔn)的OIML證書(shū)發(fā)證機(jī)構(gòu)中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院（National Institute of Metrology, China，NIM）或美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（National Institute of Standards and Technology，NIST）。
計(jì)量校準(zhǔn)：
依據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物