EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容?

　　Radiated Emission -輻射擾測(cè)試

　　Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試

　　Harmonic-諧波電流擾測(cè)試

　　Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試

　　靜電放電測(cè)試（ESD試驗(yàn)）到底有多重要？

　　ESD 是一種常見(jiàn)的近場(chǎng)危害源，可形成高電壓，強(qiáng)電場(chǎng)，瞬時(shí)大電流，并伴有強(qiáng)電磁輻射，形成靜電放電電磁脈沖，容易造成電子設(shè)備的損壞。

　　試驗(yàn)的目的主要是模擬交換機(jī)在實(shí)際使用過(guò)程中，遭遇 ESD靜電放電時(shí)，功能和性能的真實(shí)情況。對(duì)于 IEC標(biāo)準(zhǔn)，接觸放電測(cè)試是方式，但在實(shí)際的工作環(huán)境，空氣放電也較為常見(jiàn)，因此一般的試驗(yàn)，兩種測(cè)試方式都會(huì)同時(shí)做。

　　所謂 EMC，在 GB/T4365－1996《電磁兼容術(shù)語(yǔ)》中的定義是：設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁擾的能力。該定義概括了 3 個(gè)方面的內(nèi)容。

　　其一，電磁擾的可限制性。電磁擾是普遍存在的，但可以用質(zhì)量規(guī)范約束，以技術(shù)手段限制它的危害性。這就是說(shuō)應(yīng)當(dāng)對(duì)產(chǎn)品規(guī)定其向外發(fā)送電磁擾強(qiáng)度的限制值，以保證電磁環(huán)境合格。

　　其二，電磁擾的豁免性。這就是說(shuō)產(chǎn)品在規(guī)定電磁擾強(qiáng)度的電磁環(huán)境下應(yīng)能正常工作而不應(yīng)降低其性能指標(biāo)。

　　其三，電磁環(huán)境的規(guī)范性和兼容性。即對(duì)電磁擾采取任何措施都不能使自身或使處于同一電磁環(huán)境的其它產(chǎn)品或系統(tǒng)性能下降，只能友好地“和平”共處。

　　靜電放電測(cè)試、浪涌測(cè)試、EFT測(cè)試都屬于EMS（電磁敏感性）試驗(yàn)，主要檢測(cè)電子設(shè)備受到外界的電磁能量，造成自身性能下降的容易程度。