ESD的測試方法類似FAB里面的GOI測試，pin之后先給他一個ESD電壓，持續(xù)一段時(shí)間后，然后再回來測試電性看看是否損壞，沒問題再去加一個step的ESD電壓再持續(xù)一段時(shí)間，再測電性，如此反復(fù)直至擊穿，此時(shí)的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps)，為了降低測試周期，通常起始電壓用標(biāo)準(zhǔn)電壓的70 ESD threshold，每個step可以根據(jù)需要自己調(diào)整50V或者100V。

　　所謂 EMC，在 GB/T4365－1996《電磁兼容術(shù)語》中的定義是：設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁擾的能力。該定義概括了 3 個方面的內(nèi)容。

　　其一，電磁擾的可限制性。電磁擾是普遍存在的，但可以用質(zhì)量規(guī)范約束，以技術(shù)手段限制它的危害性。這就是說應(yīng)當(dāng)對產(chǎn)品規(guī)定其向外發(fā)送電磁擾強(qiáng)度的限制值，以保證電磁環(huán)境合格。

　　其二，電磁擾的豁免性。這就是說產(chǎn)品在規(guī)定電磁擾強(qiáng)度的電磁環(huán)境下應(yīng)能正常工作而不應(yīng)降低其性能指標(biāo)。

　　其三，電磁環(huán)境的規(guī)范性和兼容性。即對電磁擾采取任何措施都不能使自身或使處于同一電磁環(huán)境的其它產(chǎn)品或系統(tǒng)性能下降，只能友好地“和平”共處。

　　傳統(tǒng)上，幾乎所有EMC測試都在EMC實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行，環(huán)境噪音、溫度和濕度等測試條件要符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。 這些試驗(yàn)通常在電波暗室和屏蔽室中進(jìn)行，試驗(yàn)設(shè)備可以按照需要進(jìn)行配置和操作。

　　靜電放電測試、浪涌測試、EFT測試都屬于EMS（電磁敏感性）試驗(yàn)，主要檢測電子設(shè)備受到外界的電磁能量，造成自身性能下降的容易程度。