EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容?

　　Radiated Emission -輻射擾測(cè)試

　　Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試

　　Harmonic-諧波電流擾測(cè)試

　　Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試

　　靜電放電測(cè)試、浪涌測(cè)試、測(cè)試都屬于EMS（電磁敏感性）試驗(yàn)，主要檢測(cè)電子設(shè)備受到外界的電磁能量，造成自身性能下降的容易程度。

　　EMC性能是交流穩(wěn)壓電源的一項(xiàng)重要指標(biāo)要求。基于對(duì)交流穩(wěn)壓電源使用價(jià)值的要求，其 EMC 性能應(yīng)當(dāng)是除了本身能達(dá)到較高嚴(yán)酷度等級(jí)的抗擾度指標(biāo)及合格的電磁干擾限制外，更重要的是要為其負(fù)載（對(duì) EMI 敏感的電子設(shè)備）提供充足的 EMC 安全裕度。

　　為什么說(shuō)絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？

　　浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個(gè)：電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。

　　對(duì)于處在雷電頻繁地區(qū)的項(xiàng)目，雷雨天氣是難熬的時(shí)候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來(lái)致命的沖擊，甚至造成性的破壞。

　　浪涌試驗(yàn)的目的便是測(cè)試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時(shí)的性能狀況，不同的設(shè)備和測(cè)試部位，測(cè)試方式與角度不盡相同，