WPA-200相位差測試儀、折射率橢圓體、偏光片相位大小值分析儀

WPA-200是Photonic lattic公司采用自研的光子晶體技術，可測量相位差（光程差）、可快速自動測量應力雙折射的大小、方向和分布面測量、可一次測量視野范圍內樣品的全部數據具備點、線、面、3D的分析功能三波長可量測0-3500nm，可拓展至10000nm可輸出光程差（nm）、偏振角度（°）、應力（Mpa）、應力雙折射（nm/mm）。數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息。

雙折射測量儀WPA-200特點

1??操作簡單，測量速度可以快到3秒，

2??采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

3?測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。

4??具有多種分析功能和測量結果的比較。

5?維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

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雙折射測量儀WPA-200主要應用

·?????????光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

·?????????透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

·?????????透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

·?????????透明基板（玻璃、硅片、石英、藍寶石、單結晶鉆石）

·?????????有機材料（球晶、FishEve）

參數指標