?工廠轉讓一臺2014年日立?FT9500?X射線熒光鍍層厚度測量儀

銷售技術楊經理：18103045976

儀器簡介：

SFT9500的X射線發生系統是X射線聚光系統（聚光導管）與X射線源相結合，產生束斑直徑為Φ0.1mm以下高強度的X射線束。所以SFT9500可以對以往由于X射線照射強度不足而導致無法得到理想精度的導線架、接插頭、柔性線路板等微小零件及薄膜進行測量。同時，SFT9500采用了高計數率、高分辨率的半導體檢測器（無需液氮），在測量鍍膜厚度的同時，對于歐盟的RoHS&ELV法規所限制的有害元素的分析測量也十分有效。
技術參數：
SFT9500產品規格
可測量元素：原子序數13(Al)～83(Bi)
X射線聚光：聚光方式
X射線源：管電壓：50kV?

???????????????管電流：1mA
檢測器：Vortex?檢測器(無需液氮)
分析范圍：Φ0.1mm、Φ5mm
樣品觀察：彩色CCD攝像頭（附變焦功能）
濾波器：3種模式自動切換
樣品室：樣品平臺?????240(W)×330(D)mm
????????????????移動量??????X：220mm??Y：150mm???Z：150mm
????????????????載重量??????10kg
重量：123kg(不含電腦)
X-ray?Station：臺式電腦?19"LCD?(OS;?MS-WindowsXP?)
膜厚測量軟件：薄膜FP法（最多五層，各層十種元素）
???????????????????????檢量線法（單層、雙層、合金膜厚成分）
定量分析功能：塊體FP法
統計處理功能：MS-EXCEL?
報告制作：MS-WORD?
安裝環境：溫度：10℃～35℃(±