掃描電化學顯微系統(tǒng)（SECM）
交流掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)（ic-SECM）
微區(qū)電化學阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動點擊測試系統(tǒng)（SVET）
電解液微滴掃描系統(tǒng)（SDS）
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)（SKP）
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)（OSP）
M470是由Uniscan儀器開發(fā)的第四代掃描探針系統(tǒng)，具有更高規(guī)格和更多探針技術。
更多有關微區(qū)掃描電化學工作站的資訊，請登錄http://www.dhsi.com.cn/。
