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電子產(chǎn)品可靠性試驗的目的和方法
為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗。試驗目的通常有如下幾方面：
1. 在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價產(chǎn)品可靠性達到預定指標的情況；
2. 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息；
3. 對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收；
4. 暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及有關的失效模式和失效機理；
5. 為改進產(chǎn)品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。
對于不同的產(chǎn)品，為了達到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗方法。可靠性試驗有多種分類方法.
1. 如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗；
2. 以試驗項目劃分，可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗；
3. 若按試驗目的來劃分，則可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗；
4. 若按試驗性質來劃分，也可分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類；
5. 但通常慣用的分類法，是把它歸納為五大類:
A. 環(huán)境試驗
B. 壽命試驗
C. 篩選試驗
D. 現(xiàn)場使用試驗
E. 鑒定試驗
1. 環(huán)境試驗是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境（振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等）條件下的適應能力，是評價產(chǎn)品可靠性的重要試驗方法之一。
2. 壽命試驗是研究產(chǎn)品壽命特征的方法，這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進行。壽命試驗是可靠性試驗中最重要最基本的項目之一，它是將產(chǎn)品放在特定的試驗條件下考察其失效（損壞）隨時間變化規(guī)律。通過壽命試驗，可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。如結合失效分析，可進一步弄清導致產(chǎn)品失效的主要失效機理，作為可靠性設計、可靠性預測、改進新產(chǎn)品質量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗條件等的依據(jù)。如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機理的條件下用加大應力的方法進行試驗，這就是加速壽命試驗。通過壽命試驗可以對產(chǎn)品的可靠性水平進行評價，并通過質量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平。
3. 篩選試驗是一種對產(chǎn)品進行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產(chǎn)品的可靠性水平。
李文(Wednesday)
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