日置/HIOKI阻抗分析儀IM7585（1MHz~1.3GHz）

 日置/HIOKI阻抗分析儀IM7585（1MHz~1.3GHz）

       日置/HIOKI阻抗分析儀IM7585（1MHz~1.3GHz），可以測(cè)量比IM7580(最高300MHz的高頻測(cè)量)更高的頻率范圍。IM7585是1MHz~1.3GHz，可以滿足高頻化的各種電子元件產(chǎn)品。IM7585通過最短0.5ms(0.0005秒)的高速測(cè)量，能夠快速的檢查大量電子元件，從而提高電子元件廠商的生產(chǎn)效率。

一、主要用途：

1、電子元件生產(chǎn)廠家內(nèi)的電子元件的出貨檢查和特性評(píng)估 

2、電子設(shè)備生產(chǎn)廠家內(nèi)的電子元件的驗(yàn)貨檢查和特性評(píng)估 

3、高校研究所內(nèi)的電子元件的特性評(píng)估

二、與以往產(chǎn)品相比具備如下特點(diǎn):

1.IM7585最高1.3GHz的高頻測(cè)量：

（1）IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高于IM7580的測(cè)量頻率(1MHz~300MHz)。

（2）單一頻率測(cè)量的LCR測(cè)試儀的模式的話，可用于判斷出貨檢查的合格與否，頻率變化同時(shí)進(jìn)行測(cè)量的阻抗分析儀的模式的話 ，產(chǎn)品開發(fā)的特性評(píng)估和其他領(lǐng)域中。

2.高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)效率！測(cè)量時(shí)間：最快0.5ms，測(cè)量值偏差0.07%：

（1）最快0.5ms(0.0005秒)的高速測(cè)量。這樣，對(duì)于需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來(lái)說可以大幅提高生產(chǎn)效率。

（2）IM7585的反復(fù)測(cè)量精度是0.07%(1GHz時(shí)的代表值)，因此實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定測(cè)量，提高生產(chǎn)的成品率，從而提高生產(chǎn)效率。

3.主機(jī)尺寸小巧化，有助于降低生產(chǎn)成本：

  在電子元件廠商的生產(chǎn)線中，各種設(shè)備安裝在機(jī)架中組成檢查系統(tǒng)，并進(jìn)行自動(dòng)檢查。因此，和去年發(fā)售的IM7580相同通過將將主機(jī)大小小型化，縮小檢查系統(tǒng)的體積，并通過多臺(tái)組合能夠縮短檢查時(shí)間，并降低生產(chǎn)成本。

4.各種各樣的判斷功能，判斷合格與否：

（1）單一的頻率測(cè)量的LCR測(cè)試儀的模式的話，具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較器功能可設(shè)置上下限值，并以此為判斷標(biāo)準(zhǔn)來(lái)判斷是否合格。相對(duì)于比較器功能的按照判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷是否合格，BIN功能則能設(shè)置最多10種判斷標(biāo)準(zhǔn)，并進(jìn)行排序。

（2）在多種頻率下測(cè)量的分析儀的模式的話，包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區(qū)間判斷、峰值判斷。區(qū)間判斷是為了確認(rèn)測(cè)量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判斷區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判斷是判斷諧振點(diǎn)的功能。

（3）全新搭載了任意設(shè)置多種頻率，并按照這個(gè)設(shè)置值判斷合格與否的目標(biāo)判斷功能。

5、豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）：

    使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。

三、基本參數(shù)（精度保證時(shí)間1年，調(diào)整后精度保證時(shí)間1年）：

四、選件：

（1）測(cè)試治具：

（2）PC通訊：

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