日置/HIOKI阻抗分析儀IM7581（100 kMHz~300 MHz ）

日置/HIOKI阻抗分析儀IM7581（100 kMHz~300 MHz ）

        日置/HIOKI阻抗分析儀IM7581（100 kMHz~300 MHz ），最快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻，基本精度±0.72%rdg，具備豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定），使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量。緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小，另外主機不帶測試治具，需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。

       阻抗分析儀IM7581，相對于IM7580的1MHz～300MHz測量頻率，還擴大了低頻范圍達到100kHz～300MHz。因此，之前需要使用兩臺測量儀器的產線中，只需要一臺IM7581即可對應。日本日置 IM7581阻抗分析儀熱賣中！歡迎致電咨詢！

一、日置阻抗分析儀IM7581的用途 ：

1、電子元件廠商的電子元件的出貨檢查

2、電子元件廠商的電子元件的驗收和特性評估

二、產品特點：

1、測量頻率帶寬100kHz～300MHz：

    I M7581的測量頻率是100kHz~300MHz。和去年發售的IM7580相比，還能對應低頻測量。 單一頻率測量的LCR模式的話，可用于電子元件的出貨檢查的合格判斷，變化頻率的同時測量的分析模式的話，可用于產品開發中的特性評估等各種領域。

2、最快0.5ms的高速測量和高穩定性的測量，有利于提高生產效率：

     最快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。因此，對于需要更快速檢查大批量電子元件的電子元件廠商來說，大幅提高了生產效率。

    測量的反復精度和以往產品相比提高了1/10，能夠更加穩定的測量，并改善生產的產率，從而提高生產效率。

3、主機尺寸小型化，減少生產成本

     電子元件廠商的生產線中，機架里安裝了各種儀器并制作成檢查系統，來進行自動檢查。因此，通過將主機尺寸變 小，讓檢查系統小型化，通過安裝多臺儀器能夠縮短檢查時間，從而降低生產成本。

IM7580的尺寸是半個機架的大小（長215mm、高200mm、寬268mm），一個機架中能放置2臺。

4、各種判定功能判定合格情況

      IM7581中追加了點判定的功能。除了在以往單一的頻率下判定合格與否的方式外，還能使用點判定來判定多個頻率的合格情況，是更高端的電子元件的檢查方式。

5、、用于測試超低或低并聯電阻的電阻計：

- 自動化系統中±0.72%rdg的精度和0.01μΩ分辨率；

- 優越的反復測量精度；

- 提供高性能的接觸檢查功能，比較器功能和數據輸出功能；

- 直觀的用戶接口，強抗干擾性，最適用于自動一體化；

三、產品參數：

四、選件：

（1）測試治具：

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