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X射線熒光光譜法
X射線熒光光譜法大多數(shù)用來測定金屬元素,也是一種常見的金屬材料成分測定方法。其測試原理是:基態(tài)的原子在沒有被激發(fā)狀態(tài)下會處于低能態(tài),而一旦被一定頻率的輻射線激發(fā)就會變成高能態(tài),高能狀態(tài)下會發(fā)射熒光,這種熒光的波長非常特殊,測定出這些X射線熒光光譜線的波長就可以測定出樣品的元素種類。把標(biāo)準(zhǔn)樣品的譜線強(qiáng)度作為參照比較被測樣品的譜線,即可以測出元素的含量。該方法是定性半定量的方法,在金屬成分分析中主要作為大概含量的確定。