近場探頭

近場探頭用于配合頻譜分析儀或EMI接收機EM5080系列查找干擾源。在認證機構中，使用經過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的 EMI 標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。

EM5030 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器位置；檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實現定位功能。通過配合優測的EM5020 前置放大器可以提高系統測試靈敏度。大大的減少產品的研發周期，減少往返實驗室的時間和金錢，減少不必要的錯誤測試。EM5030 近場探頭就是解決問題的最好利器！

【近場探頭產品規格】

【 前置放大器規格】

EM5020B放大器

近場探頭EM5030/EM5030LF，是兩款主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，EM5030LF的頻率范圍是1MHz-50MHz。 當產品的輻射或傳導干擾超過標準時，可用近場探頭來尋找產品中哪個元件或電路產生了該頻率的干擾。EM5030/EM5030LF是一種磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），可以精確定位磁場干擾源。當干擾信號比較弱時，可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統測試靈敏度。