XRD測試X射線衍射儀?檢測XRD檢測XRD檢測報告XRD測試方法

公司名稱：深圳市賽特檢測有限公司（STT）

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XRD測試/X射線衍射儀

測試原理

X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。

測試方法

表征材料的晶體結構,織構及應力，進行物相分析,定性分析和半定量分析.只有圖譜的標準卡，無對應的測試標準。檢出限：1at%

粉末樣品---在硅片試樣臺上制樣，放入儀器中，設定測試參數，開始測試。

塊狀樣品---切割成樣品臺大小，不超過2.5*2.5cm, 放入儀器中，設定測試參數，開始測試。

樣品要求

塊狀或粉末樣品10g以上

塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×10mm×2mm

應用領域

物相分析，可以對物質的組成及物相進行表征分析；

定性、定量分析，通過精修可對物質的各組分進行精確的定量分析；

高溫原位分析，通過高溫原位可以研究溫度對物質晶型轉變的影響。

適用標準

通用標準和非通用標準都適用。

STT檢測嚴格按照CNAS認可委的要求建設實驗室，并依據ISO/IEC17025：2006進行實驗室管理，遵循“公正、科學、準確、高效”的準則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國際、國內標準，為企業提供專業檢測技術服務。

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