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Keithley 2602B吉利時(shí)數(shù)字源表需要儀器歡迎聯(lián)系本公司
美國吉時(shí)利KEITHLEY源表2600B系列研究領(lǐng)域：
各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：
離散和無源元件
–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻
–三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管（BJT）、場效應(yīng)晶體管（FET）等等
簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器
集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）
–模擬IC
–射頻集成電路（RFIC）
–專用集成電路（ASIC）
–片上系統(tǒng)（SoC）器件
光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、顯示器
圓片級可靠性
- NBTI、TDDB、HCI、電遷移
太陽能電池電池暫態(tài)抑制器件C、RFIC、MMIC激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測器電路保護(hù)器件:TVS、MOV、熔絲安全氣囊連接器、開關(guān)、繼電器碳納米管半導(dǎo)體納米線碳納米管 FET納米傳感器和陣列單電子晶體管分子電子有機(jī)電子基本運(yùn)放電路二極管和電路晶體管電路測試：漏流低壓、電阻LIVIDDQI-V特征分析隔離與軌跡電阻溫度系數(shù)正向電壓、反向擊穿、漏電流直流參數(shù)測試直流電源HIPOT介質(zhì)耐受性雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)結(jié)型場效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)太陽能電池和 LED 設(shè)計(jì)高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件碳納米管的電測量標(biāo)準(zhǔn)測量碳納米管電氣特性提高納米電子和分子電子器件的低電流測量在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測量納米級器件和材料的電氣測量提高超高電阻和電阻率測量的可重復(fù)性一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測量方法納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測量的技術(shù)納米級材料的電氣測量降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測量挑戰(zhàn)測量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓用微微微安量程測量電流柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析評估氧化層的可靠性zui新的半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器輸出極低電流和測量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻低阻測量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。用于先進(jìn)CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測試高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析用6線歐姆測量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測量配置分立電阻器驗(yàn)證測試系統(tǒng)電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產(chǎn)測試多臺數(shù)字源表的觸發(fā)器同步
本公司長期 回收 供應(yīng) 租賃:
示波器 網(wǎng)絡(luò)測試儀 綜合測試儀 頻譜測試儀 信號發(fā)生器 噪聲系數(shù)測試儀 音頻測試儀 數(shù)字萬用表 程控電源 功率計(jì) 頻率計(jì) 阻抗測試儀 視頻分* 儀 函數(shù)信號發(fā)生器 LCR電子測試儀 電子負(fù)載 萬用表校準(zhǔn)儀 示波器校準(zhǔn) 儀 高壓機(jī) 數(shù)據(jù)采集器 接收/發(fā)射機(jī) 測量接收機(jī) 電纜/天線測試儀 調(diào)制度測試儀 藍(lán)牙綜測儀 GPIB卡現(xiàn)金高價(jià)上門收購工廠/個(gè)人閑置，全新/二手各種二手電子儀器儀表
