FTB-5240B 光譜分析儀
隨著通信網絡的交錯使用日益增加，需要設計相應功效的測試設備來面對DWDM的挑戰。無論測試是在生產制造、安裝和網絡光纖投入使用，還是管理、維護和單元組件性能的故障發現及處理，EXFO的FTB-5240和FTB-5240B光譜分析儀（OSA）能夠處理任何情況。
此外，在業界FTB-5240B光譜分析儀具有優越的性能：在目前工藝水平上，具有實驗室標準的無比優越的性能、測試模塊能夠快速、精確和有效的進行光纖測試。
※有效的DWDM測試：FTB-5240光譜分析儀具有出色的光反射率（ORR）、分辨率帶寬、波長范圍和動態范圍，從而保證其靈活性和功效。FTB-5240B光譜分析儀擁有更為突出的ORR和高分辨率，已經為下一代的超密集波分復用裝置做好了準備。
※? 簡單的操作：EXFO的OSA光譜分析儀獨有的基于Windows2000界面，單鍵操作更方便。通過簡易、直觀的觸摸屏完成自動功能的訪問。圖形用戶界面通過菜單和功能鍵提供簡單的訪問操作。
※? 便攜耐用：模塊被固定在堅固、輕便的機殼內，并且裝有對FTB-400綜合測試系統起緩沖作用的橡膠墊，所以EXFO的光譜分析儀能夠承受現場的撞擊或是從實驗室工作臺上摔落的碰撞。
※? 一流的光反射率選件：新一代的FTB-5240B選件擁有上佳的ORR，從而可以提供非匹配的精確的光信噪比測試：0.1nm處達到40dBc、0.2nm處達到50dBc、0.4nm處達到55dbc。
※? 內部校準：新一代的FTB-5240B裝有內部參考光源來維持在C-和L-波段的波長精度為±30pm。
※? 外部校準：在測試前，使用外部光源對您的OSA重新校準可以在C-和L-波段
FTB-5240 FTB-5240B
光譜測試
波長范圍（nm） 1250~1650 1250~1650
分辨率帶寬FWHM2。3（nm） 0.065 0.033
波長精度3。8（nm） ±0.05
±0.0154 ±0.03
±0.0154
波長重復性5（nm） ±0.003 ±0.003
波長線性度3（nm） ±0.01 ±0.01
幅值測試
動態范圍3（dBm） +186~-757 +186~-757
功率精度9（dB） ±0.4 ±0.4
掃描時間（s） <1.5（35nm掃描，完全分辨率、多峰值分析）
光回損（dB） >35 >35
