日本J-RAS離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置

可對離子遷移絕緣電阻值進(jìn)行高精度、高信賴性、高效率的評價(jià)。

從當(dāng)今的地球、市場環(huán)境來看，省能源、鉛/無鹵素、小型輕量、低價(jià)、高依賴等觀點(diǎn)出來的，新素材、新實(shí)裝方法的研究開發(fā)、評價(jià)方法的重估是必須的。

簡介：離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種依賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS  VOLTAGE），經(jīng)過長時(shí)間的測試（1~1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ION  MIGRATION），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是OPEN/SHORT試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

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