四探針電阻率測試儀,可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,適用于半導體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進行測量。
測試參數(shù):電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
專用四端探針測試線!
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