鍍膜電阻測試儀HPS2523

     HPS2523鍍膜真流電阻測試儀可方便地測試鍍膜的方阻（每平方厘米電阻量值）。HPS2523可用點測和面測兩種方式測試鍍膜的方阻，可更詳細地分析薄膜金屬化的質(zhì)量。

       海爾帕科技的同仁為了更準確的方阻測量，從方阻測量的基本原理著手優(yōu)化了現(xiàn)有的的面測試方式，使得HPS2523鍍膜電阻測試儀測量更精準，操作更簡便。

主要技術(shù)規(guī)格：

電阻范圍： 測量范圍：  0Ω－99.99Ω，

           分辨率：  10mΩ（準 確 度(20℃±10℃)：  ≤±（1%＋3個字）

方阻測量范圍：0——99.99Ω/cm²

測試電流：恒流1 mA /10mA /100 mA（自動）

測量方式：點測量方式和面測量方式

應(yīng)用：

測量均勻平面薄層材料每平方厘米內(nèi)的電阻量值。