LH-200J日本Kett渦流膜厚計LH-200J

LH-200J日本Kett渦流膜厚計LH-200J

特點：
     本儀器采用了渦流測厚方法，可無損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等）。
內置打印機，可打印數據，有四個統計功能

H-200J
 
測定方法  高頻渦流式 
測定對象  非磁性金屬上絕緣層 
測定范圍  0～800um或0～32.0mils 
測定精度  <50um±1um       >50um±2% 
分辨率    100um 0.1um    >100um 1um 
界限設定  可設定上/下限數值 
測試單位  公/英制互換 
顯示方式  LCD數顯 
操作面板  密封防水按鍵 
附屬品    鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書  電源  DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個 
體積     80(W)×80(D)×30(H)      重量     1100g