Noiseken(噪聲研究所）HBM-M 人體模型試驗

產品價格：	0/人民幣
最后更新：	2013-08-12 12:16:43
產品產地：	日本
發貨地：	深圳 (發貨期：當天內發貨)
供應數量：	不限
有效期：	長期有效
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公司基本資料信息

深圳市福田區鑫民泰儀器行
曾碧新小姐
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產品詳細說明

Noiseken(噪聲研究所）HBM-M

特征考查實際上給電子設備安裝半導體元件時，半導體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。
半導體元件因受靜電可能發生內部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導致產品特性裂化，誤動作的現象。
對于此靜電破壞試驗，只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實行人體帶電型，機器帶電型的試驗。還有，可用選件中的精密型支架可對超細密間距元件做半自動的試驗。
最適合用于進行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗。
精密型支架

專業銷售/收購/維修二手儀器設備
手機：13005433157/13798360277李漢明,13713875417曾S,Q308966

可做最高輸出電壓±8KV 試驗（ESS-6008）
可做出留有余量的試驗
可對各種間距的受測元件進行靜電施加試驗
可搭配精密測臺，以半自動（Y 軸）的腳位移動而正確的對待
測物施加靜電
可做最低試驗電壓±10V 的試驗（ESS-6002）
對于低電壓驅動元件的評價可從10V 開始以1V 的步長予施加
可對應規格

對應標準

人體模型試驗 (HBM)	機械模型試驗 (MM)
AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003	AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003
ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001	ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999
IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002	IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002
IEC 60749-26 Ed.1.0 2003	IEC 60749-27 Ed.1.0 2003
JEDEC JESD22-A114E Jan 2007	JEDEC JESD22-A115A Oct.1997
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304	JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001
MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989

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