伯東inTEST高低溫測試機應用于車規級芯片測試

車規級芯片的特殊要求，決定研發企業在芯片設計之初就要考慮多層面問題：芯片架構，IP選擇，前端設計，后端實現，各合作伙伴的選擇；從設計全周期考慮產品零失效率以及車規質量流程和體系的建立。一套芯片，從設計到測試、到前裝量產的每一個環節都有著考驗。獲得車規級認證也需要花費很長的時間。

而在車規級芯片可靠性測試方面，ThermoStream ATS系列高低溫測試機有著不同于傳統溫箱的獨特優勢：變溫速率快，每秒快速升溫/降溫15°C，實時監測待測元件真實溫度，可隨時調整沖擊氣流溫度，針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊)，單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件。

伯東inTEST高低溫測試機應用于車規級芯片測試案例

國際某知名半導體芯片設計公司在汽車行業擁有30年的經驗，為汽車電子市場的領先制造商，其產品包括動力系統、車身系統和安全駕駛系統等芯片。不同于一般的半導體或者消費級芯片，車載芯片的工作環境要更為嚴苛，因此在芯片流片回來后，要經受一系列的功能驗證，性能和特性測試，高低溫測試，老化測試，模擬長生命周期的壓力測試等等，看芯片是否符合相關標準，確保其真正達到車規級。

根據客戶的要求，在溫度上需要考慮零下 40 度到 150 度的極端情況， 同時搭配模擬和混合信號測試儀，設定不同的溫度數值, 檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項功能是否正常.

經過伯東推薦，合作客戶采用美國inTEST高低溫測試機ATS-545，測試溫度范圍 -75 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 快速進行在電工作的電性能測試、失效分析、可靠性評估等。通過使用該設備，大幅提高工作效率，并能及時評估研發過程中的潛在問題。

高低溫測試機 inTEST ATS-545 測試過程:

1. 客戶根據各自的特定要求，將被測芯片或模塊放置在測試治具上, 將 ATS-545 的玻璃罩壓在相應治具上 （產品放在治具中）。

2. 操作員設置需要測試的溫度范圍。

3. 啟動 ThermoStream ATS-545, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入高低溫測試機內部制冷機進行低溫處理, 然后空氣經由管路到達加熱頭進行升溫,氣流通過玻璃罩進入測試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實時監測當前腔體內溫度。

4. 在汽車電子芯片測試平臺下，ATS-545快速升降溫至要求的設定溫度，實時檢測芯片在設定溫度下的在電工作狀態等相關參數，對于產品分析、工藝改進以及批次的定向品質追溯提供確實的數據依據。

Temptronic 創立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收購, 成為在美國設立的超高速溫度環境測試機的首家制造商. 而 Thermonics 創立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收購, 使 inTEST 更強化高低溫循環測試以及溫度沖擊測試領域的實力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發技術發展出獨創的溫度環境測試機, 將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream  ATS 超高速溫度環境測試系列產品. 

上海伯東作為 inTEST 中國總代理, 全權負責 inTEST 新品銷售和售后維修服務.