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河西區(qū)溫度計(jì)檢測(cè)-檢測(cè)中心
實(shí)驗(yàn)室工作中,你是否常被內(nèi)部?jī)x器校準(zhǔn)、自校準(zhǔn)、內(nèi)部?jī)x器搞得暈頭轉(zhuǎn)向,到底有何區(qū)別?CNAS相關(guān)體系文件中,有哪些解釋和要求?檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室需完成哪些條件才能進(jìn)行內(nèi)部?jī)x器校準(zhǔn)?等等一系列問(wèn)題都是本文討論的焦點(diǎn),一起來(lái)學(xué)習(xí)吧!
1 關(guān)于CNAS-CL31內(nèi)部?jī)x器校準(zhǔn)要求
對(duì)于檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室而言, 測(cè)量溯源性是對(duì)檢測(cè)設(shè)備和測(cè)量結(jié)果基本的要求。專用檢測(cè)設(shè)備的溯源性目前是一個(gè)大問(wèn)題, 大多數(shù)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的采取的做法是對(duì)這些專用檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)。CNAS-CL31: 2011《內(nèi)部校準(zhǔn)要求》 ,是 CNAS 對(duì)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部校準(zhǔn)工作進(jìn)行了規(guī)范 , 用以保證檢測(cè)結(jié)果的測(cè)量溯源性。
2 “內(nèi)部校準(zhǔn)”與“自校準(zhǔn)”是不同的術(shù)語(yǔ)
內(nèi)部校準(zhǔn):在實(shí)驗(yàn)室或其在組織內(nèi)部實(shí)施的,使用自有的設(shè)施和測(cè)量標(biāo)準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果僅用于內(nèi)部需要,為實(shí)現(xiàn)獲認(rèn)可的檢測(cè)活動(dòng)相關(guān)的測(cè)量設(shè)備的量值溯源而實(shí)施的校準(zhǔn)。
自校準(zhǔn):一般是利用測(cè)量設(shè)備自帶的校準(zhǔn)程序或功能(比如智能儀器的開(kāi)機(jī)自校準(zhǔn)程序)或設(shè)備廠商提供的沒(méi)有溯源的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行的儀器校準(zhǔn)活動(dòng),通常情況下,其不是有效的量值溯源活動(dòng),但特殊域另有規(guī)定除外。
內(nèi)部:是需要建標(biāo)的,且要通過(guò)質(zhì)監(jiān)中計(jì)量部門的建標(biāo)考核和發(fā)證。
內(nèi)部校準(zhǔn),企業(yè)內(nèi)部需要自行建立校準(zhǔn)規(guī)程。但是,校準(zhǔn)用的的標(biāo)準(zhǔn)器必須經(jīng)過(guò)或校準(zhǔn)合格(按照量值傳遞規(guī)定)
嘉定區(qū)熱流計(jì)檢測(cè)計(jì)量-檢測(cè)中心
校準(zhǔn)工作好像總是安排在項(xiàng)目的關(guān)鍵時(shí)刻進(jìn)行,但真的那么重要嗎。本文介紹什么是真正的校準(zhǔn),校準(zhǔn)為什么如此重要,以及校準(zhǔn)的頻度應(yīng)該如何。文章也討論了計(jì)量實(shí)驗(yàn)室如何確保校準(zhǔn)的精度。引言校準(zhǔn)工作好像總是安排在項(xiàng)目的關(guān)鍵時(shí)刻進(jìn)行,比如工作團(tuán)隊(duì)忙著準(zhǔn)備年度行業(yè)展會(huì)時(shí)。作為說(shuō)明校準(zhǔn)對(duì)項(xiàng)目影響的例子,我們假設(shè)某臺(tái)測(cè)試設(shè)備的校準(zhǔn)周期為個(gè)月。在第個(gè)月時(shí),設(shè)計(jì)工程師啟動(dòng)了一項(xiàng)持續(xù)時(shí)間為兩個(gè)月的測(cè)試項(xiàng)目。如果在測(cè)試期間對(duì)該儀器進(jìn)行重新校準(zhǔn),那么前個(gè)月累積形成的漂移或誤差將比較大,這將導(dǎo)致需要重新進(jìn)行測(cè)試。在啟動(dòng)需要該設(shè)備的大型項(xiàng)目之前校準(zhǔn)該設(shè)備是否會(huì)更好。又或者說(shuō)推遲校準(zhǔn)以防意外是否妥當(dāng)。與其它任何事件一樣,應(yīng)該在項(xiàng)目規(guī)劃軟件中制定校準(zhǔn)計(jì)劃,并且應(yīng)處于關(guān)鍵路徑中。如果忽視校準(zhǔn),會(huì)造成項(xiàng)目延遲。什么是校準(zhǔn)。有些人將讀數(shù)相同的兩臺(tái)儀器例如示波器和萬(wàn)用表認(rèn)為是“校準(zhǔn)過(guò)”的。然而,這種方法存在問(wèn)題,至少是完全不科學(xué)的。這就好比讓一個(gè)會(huì)計(jì)審計(jì)自己的賬目。如果按這種方式進(jìn)行校準(zhǔn),有三種顯而易見(jiàn)的情況是無(wú)法解釋的首先,如果一臺(tái)儀器正確,另一臺(tái)儀器錯(cuò)誤,那么誰(shuí)是誰(shuí)非。其次,如果兩臺(tái)儀器發(fā)生錯(cuò)誤的方式相反,工程師怎么能說(shuō)明兩者都不正確。,如果兩臺(tái)儀器發(fā)生錯(cuò)誤的方式相同,結(jié)果就是錯(cuò)誤的,而工程師毫不知情。如果沒(méi)有真正的可溯源外部標(biāo)準(zhǔn),就不能說(shuō)某臺(tái)儀器是正確的。0this.width=0。"onclick="window.openthis.src"style="cursorpointer"style="WIDTHpx。HEIGHTpx"alt=淺談校準(zhǔn)工作在測(cè)試中的重要性src=""width=height=>圖.NASA的火星探測(cè)漫游者利用其導(dǎo)航攝像頭記錄0年月日行動(dòng)之后的畫面。對(duì)于該項(xiàng)任務(wù)而言,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)圓圈中的部件至關(guān)重要。感謝NASA/JPL-Caltec提供圖片。校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的精度必須遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于被測(cè)儀器的精度。不要忘了,標(biāo)準(zhǔn)也存在容差。如果被測(cè)設(shè)備DUT的容差范圍與標(biāo)準(zhǔn)的容差范圍重疊,就不能實(shí)現(xiàn)完全校準(zhǔn)。這正是校準(zhǔn)時(shí)通常要求標(biāo)準(zhǔn)的精度至少比DUT的精度高0倍的原因。如果標(biāo)準(zhǔn)的容差非常確定足夠小,就能夠調(diào)節(jié)DUT,防止其在兩次校準(zhǔn)期間由于正常漂移而造成讀數(shù)超標(biāo)。當(dāng)校準(zhǔn)采用技術(shù)的儀器時(shí),標(biāo)準(zhǔn)的精度不可能比其高0倍。根據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),可使用比精度高倍的標(biāo)準(zhǔn),但要配合更復(fù)雜的過(guò)程,包括與其它標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行交叉檢驗(yàn)。計(jì)量實(shí)驗(yàn)室嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓こ處熧?gòu)買頂端品牌的儀器,并且預(yù)期這些電子測(cè)試儀器的精度較高。隨著使用時(shí)間加長(zhǎng),有些參數(shù)發(fā)生漂移,以工程師將儀器送至計(jì)量實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行校準(zhǔn)。但計(jì)量實(shí)驗(yàn)室的真實(shí)情況如何呢。大多數(shù)計(jì)量實(shí)驗(yàn)室是好的有效的。不幸的是,有些則是不合格的。有些公司選擇價(jià)格的實(shí)驗(yàn)室,而不調(diào)研其資質(zhì),由工程師負(fù)責(zé)核實(shí)實(shí)驗(yàn)室的真實(shí)性。好的實(shí)驗(yàn)室非常樂(lè)意讓您參觀,并為其標(biāo)準(zhǔn)的溯源性而自豪。您可以拿著儀器的校準(zhǔn)手冊(cè),與實(shí)驗(yàn)室人員坐在一起,確認(rèn)實(shí)驗(yàn)室擁有完成高精度校準(zhǔn)必需的儀器。您還必須確保實(shí)驗(yàn)室的儀器經(jīng)過(guò)正確校準(zhǔn),具有可溯源性。大多數(shù)擁有自己的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室,比如美國(guó)的標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究NIST.好的計(jì)量實(shí)驗(yàn)室會(huì)有記錄證明其儀器與標(biāo)準(zhǔn)鏈進(jìn)行了正確比對(duì),可溯源至由NIST或其它標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)的主標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試儀器的內(nèi)部零件例如電壓基準(zhǔn)輸入分壓器放大器增益,以及失調(diào)會(huì)隨時(shí)間變化而發(fā)生漂移。好的校準(zhǔn)方式可確保典型的小漂移不會(huì)影響測(cè)量。校準(zhǔn)就是要發(fā)現(xiàn)并修正這種漂移。但有時(shí)也會(huì)有意外儀器可能會(huì)跌落或操作人員可能會(huì)滑倒以及探測(cè)較高電壓。例如,數(shù)字萬(wàn)用表DMM可能會(huì)過(guò)載,從而產(chǎn)生較大誤差。由于數(shù)字萬(wàn)用表的輸入有保險(xiǎn)絲或斷路器保護(hù),以有些人錯(cuò)誤的認(rèn)為這種情況不會(huì)造成其超標(biāo)。然而,高電壓可能會(huì)跳過(guò)輸入保護(hù)裝置,或者會(huì)在保護(hù)裝置發(fā)揮作用之前的瞬間對(duì)電路造成破壞。當(dāng)我們將儀器送去校準(zhǔn)時(shí),我們希望計(jì)量實(shí)驗(yàn)室使儀器恢復(fù)至校準(zhǔn)狀態(tài)。工程師還應(yīng)該收到一份校準(zhǔn)報(bào)告,其中列出儀器在校準(zhǔn)前及調(diào)節(jié)后的指標(biāo)偏移。如果校準(zhǔn)報(bào)告顯示儀器存在較大的校準(zhǔn)誤差,可能有必要重新執(zhí)行已使用該儀器完成的測(cè)試項(xiàng)目,進(jìn)行新的測(cè)量。校準(zhǔn)的頻度有何要求。這個(gè)問(wèn)題不能一概而論,因?yàn)殡S儀器環(huán)境和應(yīng)用的不同而有不同。測(cè)試儀器制造商會(huì)給出典型條件下的建議校準(zhǔn)周期;端條件以及關(guān)鍵測(cè)量時(shí),可能需要更頻繁地校準(zhǔn)。以下是關(guān)于校準(zhǔn)周期的一些通用規(guī)則.根據(jù)用戶合同質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)組織規(guī)范或其它行業(yè)要求的規(guī)定,必須進(jìn)行例行校準(zhǔn)。在測(cè)試之前,必須考慮適用的要求,以確保滿足測(cè)試設(shè)備的校準(zhǔn)或驗(yàn)證。.關(guān)鍵測(cè)量項(xiàng)目之前和之后。例如,完成新產(chǎn)品的試運(yùn)行后,設(shè)計(jì)工程師將對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行特征分析,以確保滿足技術(shù)要求,并測(cè)試步驟。此時(shí)進(jìn)行的終測(cè)試調(diào)整會(huì)從根本上縮短測(cè)試時(shí)間并影響收益。完備而可靠的測(cè)試要求在測(cè)試周期之前和之后驗(yàn)證儀器的狀態(tài)。.懷疑測(cè)量錯(cuò)誤,或者儀器過(guò)載或跌落時(shí)。檢查確認(rèn)校準(zhǔn)和安全狀態(tài)例如儀器跌落時(shí)造成導(dǎo)線與外殼短路非常重要。高精度校準(zhǔn)不是可有可無(wú)的品--校準(zhǔn)確保了測(cè)試儀器的可靠性甚至人員安全性。例如,在使用設(shè)備之前,工程師可能會(huì)測(cè)量?jī)x表電壓以確保其安全。如果儀表?yè)p壞或提供的信息不準(zhǔn)確,就會(huì)造員傷害甚至死亡。此外,校準(zhǔn)是質(zhì)量的保證,可確保產(chǎn)品終測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,以及在交付客戶時(shí)滿足技術(shù)指標(biāo)要求。
3 CNAS規(guī)定:滿足什么要求實(shí)驗(yàn)室才能實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)?
儀器校準(zhǔn),儀器校正,儀器計(jì)量
一、實(shí)驗(yàn)室對(duì)使用的測(cè)量設(shè)備實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)的,其體系文件應(yīng)覆蓋CNAS-CL01《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可準(zhǔn)則》和CNAS-CL25《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可準(zhǔn)則在校準(zhǔn)域的應(yīng)用說(shuō)明》的要求。
二、實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)的人員,應(yīng)經(jīng)過(guò)相關(guān)計(jì)量認(rèn)真知識(shí)、校準(zhǔn)技能等必要的培訓(xùn)、考核合格并持證或經(jīng)授權(quán)。
三、實(shí)驗(yàn)室實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)的校準(zhǔn)環(huán)境、設(shè)施應(yīng)滿足校準(zhǔn)方法的要求。
四、實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)使用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(含標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)/標(biāo)準(zhǔn)樣品)應(yīng)滿足以下要求:實(shí)驗(yàn)室應(yīng)按照校準(zhǔn)方法要求配備標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備和輔助設(shè)備;標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的準(zhǔn)確等(或允許誤差)一般應(yīng)優(yōu)于被校準(zhǔn)設(shè)備的3-5倍;個(gè)別要求達(dá)到10倍;標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備應(yīng)經(jīng)校準(zhǔn)或;一般情況下,標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備不允許內(nèi)部校準(zhǔn)。
文山校準(zhǔn)檢測(cè)快速出報(bào)告 -CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu):http://www.jdzj.com/jiage/4_71831044.html