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阻抗分析儀IM7581
最快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻
● 測(cè)量頻率1MHz~300MHz
● 測(cè)量時(shí)間：最快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
主機(jī)不帶測(cè)試治具。需要使用阻抗分析儀專(zhuān)用的測(cè)試治具。
能夠以測(cè)量結(jié)果為基礎(chǔ)推測(cè)5種等效電路模式的常數(shù)。 而且，可以通過(guò)模擬功能，使用推測(cè)結(jié)果或者任意的常數(shù)來(lái)顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測(cè)量結(jié)果是否在判定區(qū)域內(nèi)。
IM7580系列5種機(jī)型的測(cè)量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。
和用于6種尺寸SMD的測(cè)試治具IM9201組合使用，能夠簡(jiǎn)單準(zhǔn)確的測(cè)量樣品。
分析模式的比較器功能中，可以確定測(cè)量值是否進(jìn)入了任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)。 “區(qū)域判定功能”是設(shè)置上限值和下限值的范圍，并以IN/NG來(lái)顯示判定結(jié)果。
分析模式的比較器功能中，可以確定測(cè)量值是否進(jìn)入了任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來(lái)設(shè)置范圍，并以IN/NG來(lái)顯示測(cè)量的峰值是否在判定區(qū)域內(nèi)。
分析模式的比較器功能中，可以確定測(cè)量值是否進(jìn)入了任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)。
“SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點(diǎn)和參數(shù)，最多進(jìn)行16點(diǎn)的判定。
使用比較器功能，可以確定測(cè)量值是否進(jìn)入了任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)。
適用于判定樣品是否合格的功能。
使用接觸檢查功能，能夠檢查樣品和測(cè)量端口的接觸狀態(tài)，并確認(rèn)接觸不良情況和連接狀態(tài)。
測(cè)試頭的連接線(xiàn)連接阻抗分析儀。
稍微彎曲扭力扳手的手柄后擰緊螺母（0.56 N?m）。
請(qǐng)注意不要擰過(guò)頭。
基數(shù)參數(shù)
選件
