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未來的智能汽車就是一臺四個輪子上的超級計算機, 其中最核心的器件就是車載AI芯片, 是智能汽車的數(shù)字發(fā)動機.
車載AI芯片已經(jīng)成為決定競爭勝負最重要的籌碼. 智能化變革推動汽車行業(yè)按照IT行業(yè)的邏輯和節(jié)奏向前發(fā)展, 同時也將掀起一場殘酷的淘汰賽, 作為智能化的基石, 車載AI芯片的重要性毋庸置疑.
而芯片的適應(yīng)溫度有嚴(yán)格要求. 工業(yè)級芯片的工作溫度范圍是-40攝氏度至85攝氏度, 而車載芯片工作溫度范圍是-40攝氏度至125攝氏度.
國內(nèi)某知名半導(dǎo)體芯片設(shè)計公司自主設(shè)計及開發(fā)國產(chǎn)車載芯片, 要求測試溫度范圍- 50 ℃~ 150 ℃, 需同時搭配模擬和混合信號測試儀, 檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項功能是否正常.
經(jīng)過伯東推薦, 合作客戶采用美國 inTEST 高低溫測試機 ATS-545.
在車載芯片可靠性測試方面, ThermoStream ATS系列高低溫測試機有著不同于傳統(tǒng)溫箱的獨特優(yōu)勢：
1. 變溫速率快, 每秒快速升溫/降溫18°C
2. 能實時監(jiān)測待測元件真實溫度, 亦可隨時調(diào)整沖擊氣流溫度
3. 針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件.
inTEST ATS-545-M 高低溫測試機技術(shù)參數(shù)：
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型號 |
溫度范圍 °C |
* 變溫速率 |
輸出氣流量 |
溫度 |
溫度顯示 |
溫度 |
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ATS-545-M |
-75 至 + 225(50 HZ) |
-55至 +125°C |
4 至 18 scfm |
±1℃ |
±0.1℃ |
T或K型 |
* 一般測試環(huán)境下；變溫速率可調(diào)節(jié)
高低溫測試機 inTEST ATS-545 測試過程:
1. 客戶根據(jù)各自的特定要求, 將被測芯片或模塊放置在測試治具上, 將 ATS-545 的玻璃罩壓在相應(yīng)治具上（產(chǎn)品放在治具中）.
2. 操作員設(shè)置需要測試的溫度范圍.
3. 啟動ThermoStream ATS-545, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入高低溫測試機內(nèi)部制冷機進行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由管路到達加熱頭進行升溫,氣流通過玻璃罩進入測試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實時監(jiān)測當(dāng)前腔體內(nèi)溫度.
4. 在汽車電子芯片測試平臺下, ATS-545快速升降溫至要求的設(shè)定溫度, 實時檢測芯片在設(shè)定溫度下的在電工作狀態(tài)等相關(guān)參數(shù), 對于產(chǎn)品分析、工藝改進以及批次的定向品質(zhì)追溯提供確實的數(shù)據(jù)依據(jù).
運用結(jié)果反饋：
inTEST ATS-545-M 高低溫測試機能快速進行在電工作的電性能測試、失效分析、可靠性評估等. 通過使用該設(shè)備, 大幅提高工作效率, 并能及時評估研發(fā)過程中的潛在問題.
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