熒光光譜測金機(jī)專用HD諧波減速機(jī)CSD-20-50-2UH

熒光光譜測金機(jī)(儀器廠家負(fù)責(zé)人喻奉波先生，百度搜索人名，找到作者聯(lián)系方式就能以團(tuán)購優(yōu)惠價購買儀器)利用光的色散、吸收、散射等現(xiàn)象得到與被分析物質(zhì)有關(guān)的光譜，從而對物質(zhì)成分、結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析、測量的物理光學(xué)儀器。儀器其構(gòu)造由一個入射狹縫，一個色散系統(tǒng)，一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測定。

性能特點(diǎn)

專業(yè)的貴金屬等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。EXF系列光譜測金機(jī)圖片電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。

內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號處理能力25倍。

抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析

針對不同樣品可自動切換準(zhǔn)直器和濾光片。

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍:從鈉(Na)至鈾(U)

元素含量分析范圍:1ppm-99.99%

同時分析元素:24種元素同時分析

檢測限:RoHS指令規(guī)定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)檢出限達(dá)1ppm

測量鍍層:鍍層厚度測量最薄至0.005微米，可分析11層以上的鍍層

分析精度:0.05% (96%以上)

測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體

測量時間:60s-200s

工作溫度:15℃-30℃

工作濕度:≤70%

工作電壓:AC 110V/220V

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄端窗X光管

電制冷UHRD探測器

信噪比增強(qiáng)器

內(nèi)置高清晰攝像頭

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

可自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片

加強(qiáng)的金屬元素感度分析器

應(yīng)用領(lǐng)域

貴金屬檢測

鋼鐵和有色金屬檢測

RoHS檢測