濟南千斗工業科技有限公司

Topcon拓普康分光輻射亮度計SR-LEDW-5N

Topcon拓普康分光輻射亮度計SR-LEDW-5N產品量程極為寬廣，可測亮度低至0.0005cd/m2,可用于評價體現黑畫面品質的超高對比度；可測亮度高達5,000,000cd/m2,適用于評價超高亮度級LED的光學特性，是目前行業內的領先產品，同時也是拓普康SR系列產品中的旗艦機型。通過最新搭載的FIX模式，實現了測定條件的自動化功能，從而大幅縮短了測定同一樣品時的連續測定時間。
本產品，不僅僅可應用于目前在市場上急劇擴張的LED背光模組的設計與研發，同樣適用于生產流水線上的高效率、高精度管理。
 
產品特點
量程特別寬廣，寬至0.0005～5,000,000cd/m2。
搭載FIX模式，可大幅縮短生產線上的連續測定時間(和本公司原有產品比較，可縮短1/2時間)
提升了靈敏度的均衡性能，從而能輕松測定LED芯片。
裝上照度接口（選配件）后，還能夠測定照度（lx）。
光譜波寬、半波寬5nm
 
主要用途
LED背光、LED照明器具的亮度?色度，以及色溫度特性，顯色性評價。
LCD、OLED等，顯示器的亮度?色度，色溫度特性等所有光學特性評價指標。
車載頭燈、尾燈等、LED照明器具的亮度?色度的高精度測定。
作為光學特性評價探頭，搭載于各類自動測量機臺上。
光亮采集 電子冷卻型線性陣列傳感器 
波長分散原理 衍射光柵 
光學系統 對物鏡 : f= 82mm F2.5, 目鏡 : 觀測視野 5° 
測定角 2°/1°/0.2°/0.1° selectable (電動切換式) 
測定距離 350mm - ∞ (從物鏡金屬件前開始的距離) 
光譜波寬 5nm *半波寬 
波長精度 ±0.3nm *Hg 光譜線上 
測定波長范圍 380 - 780nm 
波長分解 1nm 
測定模式 自動/手動(積分時間/頻率) / 外部垂直同步信號輸入