1756-IH16IK觸摸屏

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.功能與參數(shù)測試 
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不 
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等. 
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 
法查出它的上升與下降沿的速度. 
四.晶體振蕩器 
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 
否則只能采用代換法了. 
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電 
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出. 
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān) 
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點. 
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨 
意短路. 
五.故障現(xiàn)象的分布 
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%, 
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢). 
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既 
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.  

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• 高功率密度和3D封裝的多路模塊

  3D封裝大幅減小占板面積，有效提高布局密度;

  更靈巧的模塊外形設(shè)計，模塊能貼近負載端放置，減小布局帶來的線路損耗;

  靈活方便的多路并聯(lián)模式，單一輸入源可降低布板復(fù)雜程度，進一步減少線路損耗;

  并聯(lián)功能增加模塊的輸出能力，更讓電路工作在多相交錯狀態(tài)，減小模塊開關(guān)損耗