激光粒度儀

激光粒度儀

激光粒度儀ZetasizerUltra融合了功能大的DLS與ELS系統，它采用了非侵入背散射(NIBS)和*的多角動態光散射(MADLS)技術來測量顆粒與分子大小。NIBS的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍，而MADLS則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。  

ZetasizerUltraRedLabel的MADLS擴展功能可直接分析顆粒濃度。顆粒濃度的測量適合于廣泛的材料，無需或只需極少稀釋，并且使用快捷，這一切使其成為一種理想的篩選技術。這是ZetasizerUltra的一項*功能，甚至可以運用于以前非常難測量的病毒和類病毒顆粒(VLP)等樣品。  

激光粒度儀的主要功能包括：  

多角動態光散射法(MADLS)可讓您信心滿滿地進行顆粒與分子大小分布分析。    

動態光散射(DLS)用于測量從不足1nm到10μm的顆粒和分子大小。    

電泳光散射(ELS)用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以指示樣品穩定性和/或團聚傾向性。  非侵入背散射(NIBS)光學器件可實現多用途、高靈敏度的顆粒和分子大小測量。    

簡單的每峰值濃度/滴度測量（僅限RedLabel。）  

可拋棄毛細管粒度測量樣品池提供了的無損、低量（3μL）分析，并且粒度上限范圍可達到10μm。  

具有恒流模式的M3-PALS可用于Zeta電位和電泳遷移率測量。  

ZSXplorer軟件套件可實現簡單、靈活的方法設置和數據分析。  

自適應相關可在減少樣品制備的情況下更快速地執行更多可重現的粒度測量。  

由深度學習支持的數據質量系統可以評估任何粒度數據質量問題，并針對如何改進結果提供清晰的建議。  

帶有熒光濾光片的光學濾光轉盤可測量熒光樣品，且不會損害整體系統靈敏度。還包括用于DDLS測量的偏振濾光片。  

可選的MPT-3自動滴定儀可幫助研究pH值變化的影響。  

一系列可拋棄和可重復使用的樣品池可優化不同樣品體積和濃度的測量，其中包括新的低容量可拋棄粒度測量池套件，由于它可以抑制對流，所以既能進行樣品量小到3μL的粒度測量，也擴展了DLS測量的粒度上限范圍。  

激光粒度儀ZetasizerUltra融合了功能大的DLS與ELS系統，它采用了非侵入背散射(NIBS)和*的多角動態光散射(MADLS)技術來測量顆粒與分子大小。NIBS的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍，而MADLS則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。  

ZetasizerUltraRedLabel的MADLS擴展功能可直接分析顆粒濃度。顆粒濃度的測量適合于廣泛的材料，無需或只需極少稀釋，并且使用快捷，這一切使其成為一種理想的篩選技術。這是ZetasizerUltra的一項*功能，甚至可以運用于以前非常難測量的病毒和類病毒顆粒(VLP)等樣品。  

激光粒度儀的主要功能包括：  

多角動態光散射法(MADLS)可讓您信心滿滿地進行顆粒與分子大小分布分析。    

動態光散射(DLS)用于測量從不足1nm到10μm的顆粒和分子大小。    

電泳光散射(ELS)用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以指示樣品穩定性和/或團聚傾向性。  非侵入背散射(NIBS)光學器件可實現多用途、高靈敏度的顆粒和分子大小測量。    

簡單的每峰值濃度/滴度測量（僅限RedLabel。）  

可拋棄毛細管粒度測量樣品池提供了的無損、低量（3μL）分析，并且粒度上限范圍可達到10μm。  

具有恒流模式的M3-PALS可用于Zeta電位和電泳遷移率測量。  

ZSXplorer軟件套件可實現簡單、靈活的方法設置和數據分析。  

自適應相關可在減少樣品制備的情況下更快速地執行更多可重現的粒度測量。  

由深度學習支持的數據質量系統可以評估任何粒度數據質量問題，并針對如何改進結果提供清晰的建議。  

帶有熒光濾光片的光學濾光轉盤可測量熒光樣品，且不會損害整體系統靈敏度。還包括用于DDLS測量的偏振濾光片。  

可選的MPT-3自動滴定儀可幫助研究pH值變化的影響。  

一系列可拋棄和可重復使用的樣品池可優化不同樣品體積和濃度的測量，其中包括新的低容量可拋棄粒度測量池套件，由于它可以抑制對流，所以既能進行樣品量小到3μL的粒度測量，也擴展了DLS測量的粒度上限范圍。