ES 00電場源探頭
ES 00場源可用于產(chǎn)生大面積（150cm2）區(qū)域狀或線狀的耦合電場。有時受試設(shè)備的電場敏感點的區(qū)域會很大，如LCD顯示器及總線系統(tǒng)，其敏感區(qū)域可能會達到10?15厘米。使用如ES 00這樣大面積的電場場源，能夠測試出這樣的薄弱點。ES 00還可用于將干擾電流耦合給模塊。
ES 01電場源探頭
該場源探頭適合于向5至10厘米范圍內(nèi)的區(qū)域狀或線狀薄弱點施加電場干擾，其范圍介于ES 02和ES 00之間。用ES 01還可以將干擾電流耦合給模塊。
ES 02電場源探頭
該場源的面積較大，能夠大范圍地向機箱表面及內(nèi)部區(qū)域、連接件、帶導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的模塊以及集成電路（如總線系統(tǒng)，液晶顯示器）等施加耦合干擾電場。該場源的尖端部位，可用于定位對電場敏感的小面積薄弱點（導(dǎo)線、晶振、上拉電阻、IC等）。
ES 05D電場源探頭
該電場場源的探頭內(nèi)有一個狹窄的線狀耦合電極，特別適合于向布線、小型元件及其連接器、線纜及單個的SMD元件如電阻和電容等施加電場，同時它還可以用于測量那些單個的接插件或扁平帶狀電纜的芯線。
ES 08D電場源探頭
電場源ES 08D是一個探針，用于檢查集成電路引腳或者布線等的敏感度。檢測時，探頭的尖端連接到引腳或布線。通過改變SGZ21的脈沖群強度檢測引腳的靈敏度。
MS 02磁場探頭
這種磁場探頭用于測量受試設(shè)備中的爆沖磁場。借此可以查明干擾電流的路徑。使用時，把這種磁場探頭接到SGZ 21脈沖群發(fā)生器。
