JAI TM-773NIR TM-775NIR 工業相機 轉向節表面缺陷檢測

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型號：TM-773NIR

像元尺寸：6.35 x 7.4 μm

分辨率：756 x 494

外形尺寸：32 x 42 x 48.48 mm

重量：113g

工作溫度：-10oC-50oC

型號：TM-775NIR

像元尺寸：8.4 x 9.8 μm

分辨率：756 x 494

外形尺寸：32 x 42 x 48.48 mm

重量：113g

工作溫度：-10oC-50oC