日本KETT LE-373膜厚計

型號

LE-373

測定方法

電磁式

測定對象

磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層

測定范圍

0-2500μm

測定精度

<50μm±1μm  , 50μm-1000μm±2%  , 1000μm-2000μm±3%

分辨率

<100μm為0.1μm , >100μm為1μm

記憶數(shù)據(jù)

大約3000個

附加功能

1.程序選擇 2.基體修正 3.數(shù)據(jù)刪除 4.數(shù)據(jù)統(tǒng)計 5.設(shè)定上下限6.數(shù)據(jù)統(tǒng)計
（測定次數(shù) *大值 *小值 標準偏差） 7.語言選擇（中英日韓）8.日期時間 
9.自動關(guān)機設(shè)定 10.背景燈光選擇 11.背景燈光的時間設(shè)定 12.單位 13.數(shù)據(jù)輸出

測頭

點觸式（LEP-J)

顯示方式

數(shù)字LCD顯示（背光燈可自行選擇開關(guān)）

數(shù)據(jù)輸出

電腦輸出（USB或者RS-232C)或者連接打印機

電源

4節(jié)1.5V堿性電池

存儲通道

有50個通道可供選擇

尺寸重量

75（W）×145（D）×31（H）mm ， 0.34Kg

標準配置

基體 / 標準片 / 4節(jié)堿性電池 / 測頭 / 皮套

可選配置

數(shù)據(jù)管理軟件（LDL-03) / 不同厚度的標準片 / 打印機VZ-330