MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能
| 型號 |
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
| MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 |
| 應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)) |
1
|
1
|
10
|
99
|
| 每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設寬容度極限值) |
-
|
1
|
10
|
99
|
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) |
-
|
1
|
500
|
500
|
| 數(shù)據(jù)總量 |
1
|
10000
|
10000
|
10000
|
| MINITEST統(tǒng)計計算功能 |
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
-
|
-
|
-
|
√
|
| 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 其他功能 |
| 透過涂層進行校準(CTC) |
-
|
√
|
|
|
| 在粗糙表面上作平均零校準 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 利用計算機進行基礎校準 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 補償一個常數(shù)(Offset) |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 外設的讀值傳輸存儲功能 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 保護并鎖定校準設置 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 更換電池是存儲數(shù)值 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 設置極限值 |
-
|
-
|
|
|
| 公英制轉(zhuǎn)換 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 |
-
|
-
|
|
|
| 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
-
|
-
|
|
|
| 浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 組內(nèi)單值延遲顯示 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 連續(xù)測量模式中顯示最小值 |
√
|
√
|
|
|
可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
|
量程
|
低端
分辨率
|
誤差
|
最小曲率
半徑(凸/凹)
|
最小測量
區(qū)域直徑
|
最小基
體厚度
|
探頭尺寸
|
磁
感
應
法
|
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x170mm
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
兩
用
|
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ15x62mm
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ21x89mm
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ15x62mm
|
電
渦
流
法
|
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x170mm
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
無限制
|
φ17x80mm
|
| 注： |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
探頭圖示
 |
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
 |
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
|
 |
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
|
 |
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
 |
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
|
 |
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
 |
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
|
 |
F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
|
 |
F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
|
 |
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
 |
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
|
 |
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
 |
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
 |
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
|
 |
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
|
 |
N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
|
 |
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
|
