功能
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型號(hào)
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1100
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2100
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3100
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4100
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MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
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應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
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1
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1
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10
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99
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每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，可設(shè)寬容度極限值)
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-
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1
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10
|
99
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可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
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-
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1
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500
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500
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數(shù)據(jù)總量
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1
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10000
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10000
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10000
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MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
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讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
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-
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√
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√
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√
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讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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-
|
-
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√
|
√
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|
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
|
-
|
-
|
√
|
√
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組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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-
|
-
|
√
|
√
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存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
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-
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-
|
-
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√
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分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
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-
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-
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√
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√
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顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
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-
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√
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√
|
√
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其他功能
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透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
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-
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√
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在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
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√
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√
|
√
|
√
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利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
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√
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√
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√
|
√
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補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)
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-
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-
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√
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√
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外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能
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-
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√
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√
|
√
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保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
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√
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√
|
√
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√
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更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
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√
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√
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√
|
√
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設(shè)置極限值
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-
|
-
|
|
|
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公英制轉(zhuǎn)換
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√
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√
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√
|
√
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連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過模擬柱識(shí)別最大最小值
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-
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-
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連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
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-
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-
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浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
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√
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√
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√
|
√
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組內(nèi)單值延遲顯示
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-
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√
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√
|
√
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連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值
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√
|
√
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可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
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探頭
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量程
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低端
分辨率
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誤差
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最小曲率
半徑(凸/凹)
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最小測(cè)量
區(qū)域直徑
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最小基
體厚度
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探頭尺寸
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磁
感
應(yīng)
法
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F05
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0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
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1/5mm
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3mm
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0.2mm
|
φ15x62mm
|
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F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
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1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
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F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x170mm
|
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F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
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F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
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50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
兩
用
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FN1.6
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0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
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1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ15x62mm
|
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FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ21x89mm
|
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FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm
|
φ15x62mm
|
|
電
渦
流
法
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N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x170mm
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
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25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
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N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
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100mm/平面
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200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
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CN02
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10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
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7mm
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無(wú)限制
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φ17x80mm
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注：
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F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
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探頭圖示
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FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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|
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
|
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F05
0～500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
|
|
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
|
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層
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|
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
|
F10
0～10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
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F20
0～20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
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F50
0～50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
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N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
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N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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N100
0～100mm,200mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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CN02
10～200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
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