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Agilent 4263B LCR測試儀
廠商名稱： Agilent(安捷倫)
商品名稱： LCR測試儀
商品型號(hào)： 4263B
Alilent 4263B LCR測試儀是Agilent公司生產(chǎn)的最價(jià)廉物美的低檔LCR測試儀，供生產(chǎn)線上的元件評估和實(shí)驗(yàn)室中的基本阻抗測試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對測試進(jìn)行模擬的5個(gè)測試頻率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在這5個(gè)頻率之外還可增添供選用的20kHz測試頻率（選件002）。
    
    高速測量
    
    Agilent 4263B依靠在任何測試頻率上都有25ms的測量速度來提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測試的效率，4263B能檢查測試端子與被測件（DUT）之間的接觸狀況，這種功能保證在生產(chǎn)中用自動(dòng)處理器進(jìn)行合格。不合格的測試的可靠性，有故障的被測件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作，因此處理器始終能以最高速度工作。
    
    電解電容器測量
    
    Ailent 4263B的精度和寬的測量范圍是對電解電容器進(jìn)行精密測量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電，從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計(jì)考慮了保護(hù)作用，能保持測試正常進(jìn)行。
    
    變壓器參數(shù)測量
    
    技術(shù)指標(biāo)：
    
    由于Ailent 4263B能進(jìn)行匝數(shù)比（N），互感（M）和直流電阻（DCR）測量，故數(shù)據(jù)計(jì)算和改變測試裝置不再是費(fèi)時(shí)的工作（選件001）靈活的信號(hào)電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測量與電平有關(guān)的被測件，始磁芯電感器。
    
    測量功能
    測量參數(shù) |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
    選件001 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測量
    測量電路形式 串聯(lián)和并聯(lián)
    數(shù)學(xué)功能 偏差和百分偏差
    測試電纜長度 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)
    測試信號(hào)數(shù)據(jù)
    測試頻率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
    選件002 增加20kHz測試頻率
    頻率精度 ±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
    輸出阻抗 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
    
    交流測試信號(hào)電平 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
    精度 ±（10%+10mV)
    內(nèi)部直流偏置
    電平 1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
    
    外部直流偏置 0~+2.5V
    測量范圍 參數(shù)
     測量范圍
    |Z|,R,X 1mΩ-100MΩ
    |Y|,G,B 10nS-1000S
    C 1pF-1F
    L 10nH-100kH
    D 0.0001-9.9999
    Q 0.1-9999.9
    θ -180°~+180°
    DCR 1mΩ-100MΩ
    N 0.9-200（待定）
    L,M 1μH-100H（待定）
    Δ% -999.99%-+999.99%
    測量精度： ±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)
    測量時(shí)間
    模式 時(shí)間（典型值）
    短 25ms
    中等 65ms
    長 500ms
    測試信號(hào)電平監(jiān)視器： 電壓和電流
    前端保護(hù)： 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。最大電容器電壓為；在
    Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。
    
    顯示數(shù)字： 3，4或5位（可選擇）
    修正功能：
    開路/短路誤差為0： 消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差
    負(fù)載： 利用一個(gè)已校器件作為參考來改善測量的精度
    比較功能： 對每個(gè)一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果
    接觸檢查功能： 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms
    其它功能
    存儲(chǔ)/調(diào)用： 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置
    連續(xù)存儲(chǔ)功能： 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來（在23°±5℃下≦72小時(shí)）
    GPIB接口 所有控制設(shè)置，被測值和比較器信息
    處理器接口 所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā)

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