SMX-BEN 薄膜測(cè)厚儀--美國(guó)Solar

SMX-BEN 薄膜測(cè)厚儀

SMX-BEN 屬高階的薄膜太陽能電池分析儀
薄膜太陽能電池CIGS/CdTe分析儀
可分析范圍：
(1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時(shí)測(cè)量。
(2)分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時(shí)測(cè)量。
(3)三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析

SMX-BEN 薄膜測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
最大50kV，多段電壓切換
4-1000μA，可做自動(dòng)調(diào)整設(shè)定
共五個(gè)濾波器，自動(dòng)切換
電冷式偵測(cè)器

SMX-BEN 薄膜測(cè)厚儀主要特點(diǎn)
1. 全球唯一能提供NIST等級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)樣品，與美國(guó)NREL共同合作。
2. 超大樣品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接儲(chǔ)存及建立各種鍍層的Protocol參數(shù)，可設(shè)定多點(diǎn)分析，以確定製程品質(zhì)。
4. 針對(duì)CIGS各種鍍層材質(zhì)的濾光片，共5種
5. X-Y-Z三軸自動(dòng)定位，軸承最長(zhǎng)距離為8”X8”X6”，並有自動(dòng)聚焦功能
6. 具有表面相對(duì)等距自動(dòng)調(diào)整系統(tǒng)
7. 採用自然光，LED白光，無色差
8. 採用最新高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測(cè)器
9. 具有防撞安全裝置
10. 具有操作時(shí)輻射安全裝置