MINITEST 730涂層測厚儀--德國EPK

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內置

外置

內置外置可換

數據記憶組數

10

10

100

存儲數據量

最多10,000個

最多10,000個

最多100,000個

統計值

讀值個數，最小值，最大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置）

校準程序符合國際標準和規范

ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準

校準模式

出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值

極限值監控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

um，mm，cm；mils，inch，thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數據接口

IrDA 1.0（紅外接口）

電源

2節AA電池

標準

DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g（內置）/230g（外置）

F1.5，N0.7，FN1.5

F2

F5，N2.5，FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用

粗糙表面

標準探頭，使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應

電渦流

磁感應

磁感應

電渦流

磁感應

信號處理

探頭內部32位信號處理（SIDSP）

精確度

±（1μm+0.75%讀值）

±（1.5μm+0.75%讀值）

±（5μm+0.75%讀值）

重復性

±（0.5μm+0.5%讀值）

±（0.8μm+0.5%讀值）

±（2.5μm+0.5%讀值）

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

最小曲率半徑（凸）

1.0mm

1.5mm

5mm

最小曲率半徑（凹，外置探頭）

7.5mm

10mm

25mm

最小曲率半徑（凹，內置探頭）

30mm

30mm

30mm

最小測量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

最小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續模式下測量速度

每秒20個讀數

單值模式下最大測量速度

每分鐘70個讀數