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當前位置: 首頁 » 供應產品 » 設備 » 儀器儀表加工設備 »MiniTest3100,MiniTest3100

MiniTest3100,MiniTest3100

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產品價格: 28000/人民幣 
最后更新: 2012-08-12 10:49:36
產品產地: 德國
發貨地: 上海 (發貨期:當天內發貨)
供應數量: 不限
有效期: 長期有效
最少起訂: 1
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  • 公司基本資料信息
  •  
    產品詳細說明
    德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
    所有型號均可配所有探頭;
    可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
    可使用一片或二片標準箔校準。
    涂層測厚儀MiniTest1100

    MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能
    型號
    1100
    2100
    3100
    4100
    MINITEST 存儲的數據量
    應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)
    1
    1
    10
    99
    每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值)
    -
    1
    10
    99
    可用各自的日期和時間標識特性的組數
    -
    1
    500
    500
    數據總量
    1
    10000
    10000
    10000
    MINITEST統計計算功能
    讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
    -
    讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
    -
    -
    組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
    -
    -
    -
    分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
    -
    -
    顯示并打印測量值、打印的日期和時間
    -
    其他功能
    透過涂層進行校準(CTC)
    -
    在粗糙表面上作平均零校準
    利用計算機進行基礎校準
    補償一個常數(Offset)
    -
    -
    外設的讀值傳輸存儲功能
    -
    保護并鎖定校準設置
    更換電池是存儲數值
    設置極限值
    -
    -
    公英制轉換
    連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值
    -
    -
    連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
    -
    -
    浮點和定點方式數據傳送
    組內單值延遲顯示
    -
    連續測量模式中顯示最小值

    可選探頭參數(探頭圖示)
    所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
    F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
    N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
    FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
    探頭
    量程
    低端
    分辨率
    誤差
    最小曲率
    半徑(凸/凹)
    最小測量
    區域直徑
    最小基
    體厚度
    探頭尺寸



    F05
    0-500μm
    0.1μm
    ±(1%±0.7μm)
    1/5mm
    3mm
    0.2mm
    φ15x62mm
    F1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/6mm
    5mm
    0.5mm
    φ8x170mm
    F3
    0-3000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F10
    0-10mm
    5μm
    ±(1%±10μm)
    5/16mm
    20mm
    1mm
    φ25x46mm
    F20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±10μm)
    10/30mm
    40mm
    2mm
    φ40x66mm
    F50
    0-50mm
    10μm
    ±(3%±50μm)
    50/200mm
    300mm
    2mm
    φ45x70mm


    FN1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm
    FN1.6P
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    30mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ21x89mm
    FN2
    0-2000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm



    N02
    0-200μm
    0.1μm
    ±(1%±0.5μm)
    1/10mm
    2mm
    50μm
    φ16x70mm
    N.08Cr
    0-80μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    2.5mm
    2mm
    100μm
    φ15x62mm
    N1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    2mm
    50μm
    φ15x62mm
    N1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/10mm
    5mm
    50μm
    φ13x170mm
    N10
    0-10mm
    10μm
    ±(1%±25μm)
    25/100mm
    50mm
    50μm
    φ60x50mm
    N20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±50μm)
    25/100mm
    70mm
    50μm
    φ65x75mm
    N100
    0-100mm
    100μm
    ±(1%±0.3mm)
    100mm/平面
    200mm
    50μm
    φ126x155mm
    CN02
    10-200μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    7mm
    無限制
    φ17x80mm
    注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
    N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
    CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

    探頭圖示
    FN1.6
    0~1600μm,φ5mm
    兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    FN1.6P
    0~1600μm,φ30mm
    兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


    F05
    0~500μm,φ3mm
    磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
    量程低端分辨宰很高(0.1μm)

    F1.6
    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    F3
    0~3000μm,φ5mm
    磁性測頭
    可用于較厚的覆層

    F1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    90度磁性測頭
    尤其適合于在管內壁測量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    F10
    0~10mm,φ20mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


    F20
    0~20mm,φ40mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

    F50
    0~50mm,φ300mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

    N02
    0~200μm,φ2mm
    非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    N0.8Cr
    0~80μm,φ2mm
    適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

    N1.6
    0~1600μm,φ2mm
    非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    N1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
    尤其適合在管內壁測量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)

    N10
    0~10mm,φ50mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

    N20
    0~20mm,φ70mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

    N100
    0~100mm,200mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
    CN02
    10~200μm,φ7mm
    用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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