奧林巴斯可更換延遲塊測厚探頭V260-SM V260-RM V260-45

公司基本資料信息

產(chǎn)品詳細說明

奧林巴斯可更換延遲塊測厚探頭V260-SM V260-RM V260-45

優(yōu)勢
? 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。
? 較高的探頭頻率提高了分辨率。
? 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細小缺陷的能力。

? 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應用
? 精確測厚。
? 垂直聲束缺陷探測。
? 對接觸區(qū)域有限的工件進行檢測。

sonopen可更換延遲塊探頭

? 聚焦的可更換延遲塊。
? 尖端直徑極小的特點可以提高在曲面及小缺口上的檢測性能。

? 手柄可以方便探頭頭部的定位。

頻率 晶片尺寸 標稱探頭

MHz 英寸毫米平直手柄直角手柄 45° 手柄

15 0.125 3 V260-SM V260-RM V260-45

SLH-V260-SM*裝有彈簧的支架，*僅與V260-SM一起使用

* 高溫延遲塊可在溫度高達175°C（350°F）的情況下使用。

帶有手柄組合件的永久延遲塊探頭
這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進行探測，如：
相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉(zhuǎn)的頭部提高了
其在狹小區(qū)域接觸被測工件的能力。

頻率標稱延遲塊長度探頭工件編號

晶片尺寸

MHz 英寸毫米微秒

20 0.125 3 1.5 M2054

20 0.125 3 4.5 M2055

20 0.125 3 4.0 V2034

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